トレーニング_JEM-ARM200F | AEM｜金研分析電顕室 https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp Imaging Diffraction Spectrometry Fri, 21 Aug 2026 07:02:19 +0000 ja hourly 1 https://wordpress.org/?v=7.1 https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2015/04/cropped-DSC_0167-1-1-32x32.jpg トレーニング_JEM-ARM200F | AEM｜金研分析電顕室 https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp 32 32 88092597 技能講習資料：ARM200F https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/%e6%8a%80%e8%83%bd%e8%ac%9b%e7%bf%92%e8%b3%87%e6%96%99%ef%bc%9aarm200f/ Wed, 06 Nov 2024 00:00:36 +0000 https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/?p=3320 JEM-ARM200F:初級ライセンス

以下の内容は書きかけのものを含みます。

]]> 3320 TEMトレーニング（定期講習会）再開について https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/tem%e3%83%88%e3%83%ac%e3%83%bc%e3%83%8b%e3%83%b3%e3%82%b0%ef%bc%88%e5%ae%9a%e6%9c%9f%e8%ac%9b%e7%bf%92%e4%bc%9a%ef%bc%89%e5%86%8d%e9%96%8b%e3%81%ab%e3%81%a4%e3%81%84%e3%81%a6/ Wed, 04 Sep 2024 06:05:28 +0000 https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/?p=3268 ... TEMトレーニング（定期講習会）再開について]]> 利用者各位

当室管理のTEMに関する定期講習会について、装置トラブルや人員不足の為中断しておりましたが、一部メンテナンスが完了しましたので、下記の通り再開することと致しました。受講を希望される方は下記フォームよりお申し込み下さい（締め切り：9／20）。年度初めの案内とはスケジュールが異なりますが、何卒ご理解いただきますようお願い申し上げます。

初級ライセンス　定期講習（無償）

  • JEM-2100plus 初級ライセンス
    • 第1期EDS補講　随時　（10月～予定）
      • 第1期講習においてはEDS故障の為、EDS関係のトレーニングを実施しておりませんでした。
      • 10月頃を目処にEDSの修理が完了する予定ですので、第1期の受講者の方を対象に追加トレーニングを実施します。
      • EDS補講は通常の装置利用と併せて行います。（2時間程度）受講を希望される方は、マシンタイム予約時に当室スタッフまでご相談ください。
    • 第2期　2024/10~12
  • JEM-ARM200F初級ライセンス
    • 第1期　2024/10～12
      • 定員　2名ｘ3グループ
      • 条件　JEM-2100plus初級ライセンストレーニング修了者
        • JEM-2100plusの既存ユーザーの方も対象となりますが、STEMモードの使用経験が必要です。
      • 受講申込フォーム（JEM-ARM200F:初級）

標準ライセンス講習（無償）

標準ライセンス講習は受講希望、マシンタイムの状況、対応スタッフのスケジュールを勘案して開催の有無及び実施時期を判断します。お急ぎの場合は、通常の装置利用時の技術支援に併せてトレーニングを実施する事も可能です（有償）。

  • JEM-2100plus標準ライセンス
    • 第1期　2024/1-3　準備中
      • 定員　各回1~2名
      • 条件　JEM-2100plus初級ライセンストレーニング修了者、もしくはJEM-2100plus既存ユーザーの方の方で単独での使用経験が4回以上ある方。
  • JEM-ARM200F初級ライセンス
    • 第1期　2025/1-3　準備中
      • 定員　各回1~2名
      • 条件　JEM-ARM200F初級ライセンストレーニング修了者、もしくはJEM-ARM200F既存ユーザーの方の方で単独での使用経験が4回以上ある方。

技術職員等、支援業務に関わる方

定期講習会は原則として、装置利用者向けの講習会となります。本学の技術職員の方など、研究支援業務にかかわる方については、随時トレーニング（無償）を実施いたしますので、当室まで直接お問い合わせください。

金研分析電顕室

]]> 3268 [装置トラブル]JEM-ARM200F(STEMコレクタ)不調による使用不可及び定期講習会延期について https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/%e8%a3%85%e7%bd%ae%e3%83%88%e3%83%a9%e3%83%96%e3%83%abjem-arm200fstem%e3%82%b3%e3%83%ac%e3%82%af%e3%82%bf%e4%b8%8d%e8%aa%bf%e3%81%ab%e3%82%88%e3%82%8b%e4%bd%bf%e7%94%a8%e4%b8%8d%e5%8f%af%e5%8f%8a/ Tue, 25 Jun 2024 03:44:17 +0000 https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/%e8%a3%85%e7%bd%ae%e3%83%88%e3%83%a9%e3%83%96%e3%83%abjem-arm200fstem%e3%82%b3%e3%83%ac%e3%82%af%e3%82%bf%e4%b8%8d%e8%aa%bf%e3%81%ab%e3%82%88%e3%82%8b%e4%bd%bf%e7%94%a8%e4%b8%8d%e5%8f%af%e5%8f%8a/ ... [装置トラブル]JEM-ARM200F(STEMコレクタ)不調による使用不可及び定期講習会延期について]]> 金研分析電顕室　利用者各位

2024/06/24現在当室管理のTEM(JEM-ARM200F(STEMコレクタ))が不調のため使用不可となっております。復旧時期は未定です。また、この不調に伴いTEM講習会（JEM-ARM200F:初級ライセンス：2024/7~9実施予定）の開催時期を延期致します。

故障期間中のJEM-ARM200F(STEMコレクタ)の使用予定につきましてはJEM-ARM200F(Wコレクタ）で対応致しますが、マシンタイム、対応スタッフのスケジュールが混雑することが予想されますので、ご利用予定の方は、早めのスケジュール確保をお願いします。

ご不便をおかけして大変申し訳ありませんが、よろしくお願いします。不明な点はお尋ねください。

金研分析電顕室　長迫

トラブル詳細（参考）

  • 装置
    • JEM-ARM200F(STEMコレクタ)　金研2号館B14室
  • 発生時期
    • 2024/6/8-9の計画停電後の復帰作業中に発生
  • 症状
    • 電子線が一方向にドリフトし続け、一定量ドリフトすると元の位置に戻り再びドリフトする動作を繰り返す。
      • エミッション電流の増大に伴い、ドリフト速度が上昇する。
      • 偏向系コイルの電流に異常は見られない。
    • TEM/STEMいずれのモードも実用困難。
  • 考えられる原因
    • 電子線経路の途中でチャージアップが生じている。
    • ガンバルブ付近のコンタミの可能性が高い（未確定）。
  • 対応について（検討中）
    • 修理による対応
      • 疑わしい箇所をクリーニング・交換し、状態確認を繰り返す必要があるが、大がかりな分解をともなう。
      • ガンバルブ回りのコンタミが関係している可能性が高いため、電子銃ごと交換する。
        • 電子銃は2014年の導入以来未交換だった（通常は5年程度で交換になることが多い）。従って、2025年度の交換を検討していたが、この予定を前倒しし、電子銃の交換及び周辺箇所の整備を併せて実施する方が望ましい。
      • 費用が高額且つ作業期間も必要となる。
    • 軸調整による対応
      • チャージ箇所によっては、当該箇所を避けるように軸調整をおこなうことでその影響を低減しドリフトを避けられる可能性がある。
        • 標準的ではない軸調整を行う為、性能や使用感に影響がある場合がある。
        • 以前はこの対応が有効だったが、現状では軸調整では対応できていない。
          • 症状が進行している可能性がある。
    • 偶然良くなる場合もある
      • 経時によりコンタミ・チャージアップの状態が変化し、状況が改善する場合もある。
      • 鏡筒のベークアウトを繰り返しているが、状況の変化はない。
]]> 3245 TEM講習会（JEM2100plus：初級ライセンス： 2024/4~6実施  ）申込フォーム https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/tem%e8%ac%9b%e7%bf%92%e4%bc%9a%ef%bc%88jem2100plus%ef%bc%9a%e5%88%9d%e7%b4%9a%e3%83%a9%e3%82%a4%e3%82%bb%e3%83%b3%e3%82%b9%ef%bc%9a-2024-46%e5%ae%9f%e6%96%bd-%ef%bc%89%e7%94%b3%e8%be%bc/ Mon, 15 Apr 2024 07:23:58 +0000 https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/?p=2811 ... TEM講習会（JEM2100plus：初級ライセンス： 2024/4~6実施  ）申込フォーム]]> 学内利用者各位

以下の通り、TEM講習会を実施いたしますので、受講を希望される方は下記フォームよりお申し込み下さい。

申込フォーム

https://docs.google.com/forms/d/e/1FAIpQLSfXmObwfPMLNeBsoh8zTK2qUWeR0TF3s_4ZNZpGXC9DCEGkMQ/viewform

お願い

  • 研究室毎にまとめてお申し込み下さい。
  • 本フォームによるお申し込みは学内の方限定です。

初めに

希望調査の時点では最大10名程度の受講を想定しておりましたが、事前調査により多数の受講希望をいただいております。大変申し訳ありませんが、下記の通り技能実習の人数を制限させていただきます。

人数制限について

  • 今期の講習会は、技能実習を行う都合上、同時受講者を3名とし、また、マシンタイム及び対応スタッフのスケジュールの都合上、合計4グループ（計12名）で実施させて頂きます。
  • できるだけ多くの方にご利用頂きたいため、技能実習の受講者は各研究室1名のみとさせて頂きます。
  • 希望者多数の場合は、講習の効率や緊急度等から判断して、次回以降の定期講習会（10-12月実施予定）の受講や個別講習をお願いする場合がありますので、予めご了承ください。
  • 初回ガイダンスについては人数制限はございませんので、今後装置を直接利用予定の方は受講いただくようお願いいたします（初回ガイダンスは装置・ライセンス難易度にかかわらず同内容ですので、今回受講いただければ次回以降の講習会では参加不要です） 。

初回ガイダンスについて
　日程　4/24 13:00-16:00　（オンサイト：会場：金研）
　対象　

  • 今回講習会（実技講習）を受講される方（必須）
  • 次回以降の講習会を受講予定の方（推奨）
  • 当室管理装置を技術補助・技術代行で利用される方 （推奨）
  • 既に装置を利用しているが受講したい方
  • その他どなたでもご参加いただけます。
  • 初回ガイダンスは後日オンライン視聴による受講も可能にする予定でです（日程未定）。

　内容　

  1. 金研電顕室の装置利用について（利用申請・利用料金・マシンタイム予約・ライセンス制等について）
  2. 実技講習について
  3. TEM基礎（座学）

＊今後実施予定の他の装置・上位ライセンスのトレーニングにおいても同じ内容となります。

研究室内トレーニングと個別ライセンス認定について

  • ライセンスを取得したユーザーは、各自のマシンタイム内に研究室内のメンバーに対してライセンスの範囲内のトレーニングを実施して頂けます。
  • 研究室内トレーニングが終了した方は認定試験を受けて頂くことでライセンスを取得可能です。
  • 個別の認定試験は依頼観察や立会観察のマシンタイム内でお申し込み下さい。

「講習会実施要領（JEM-2100plus:初級ライセンス ）」

日程

  • 初回ガイダンス　4/24 13:00-16:00
  • 技能実習　5/7~6/28　（毎週火～金・10:00~17:00・予備日含む）
  • 講習内容によっては早く終わる場合があります（予定時間内は練習可）。

募集人数

  • 実習：3名ｘ4グループ（各曜日1グループ・各研究室1名）
  • 但し、初回ガイダンスは人数制限無し

日程詳細

初回ガイダンス：4／24

第1回：5/7-10：基礎1：安全・設備・試料セット・基本操作（電子線発生まで）

第2回：5/14-17：基礎2：基本操作（スクリーンで行う基本操作）

第3回：5/21-24：初級1：基本調整とCCDカメラ（観察・撮影）

第4回：5/28-31：初級2：基本的なTEM観察（平行ビーム）

第5回：6/4-7：初級3：基本的なSTEM観察（収束ビーム）※

第6回：6/11-14：初級4：自主トレーニング

第7回：6/18-21：初級5：ライセンス認定試験

予備：6/25-28

※現在EDSが故障中のため、期間中のトレーニング実施が困難場合は、内容を一部省略・変更する場合がございます。

「今後の予定」
7－9月

  • JEM-2100plus:標準講習
  • JEM-ARM200F:初級講習（要 JEM-2100plus:初級ライセンス）

10-12月

  • JEM-2100plus:初級講習

2025/1-3月

  • JEM-ARM200F:標準講習 （要 JEM-ARM200F:初級ライセンス）

募集期限　4/20（日）（実技講習参加の場合）

  • 初回ガイダンスのみ、当日参加可
]]> 2811 TEMトレーニング項目詳細 https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/tem%e3%83%88%e3%83%ac%e3%83%bc%e3%83%8b%e3%83%b3%e3%82%b0%e9%a0%85%e7%9b%ae%e8%a9%b3%e7%b4%b0/ Mon, 30 Oct 2023 08:05:44 +0000 https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/?p=2499 トレーニングについて

トレーニング項目概要はこちら

codeARM200F-WARM200F-S2100plus2000EXII002B区分項目トレーニング用試料内容詳細備考
B-1-1◎◎◎◎◎基本手続き–利用者登録装置毎の利用希望形態調査
B-1-2◎◎◎◎◎予約システム（サインアップ）予約システムのアカウント作成
B-1-3◎◎◎◎◎予約システム（利用申請）利用申請・財源登録
B-1-4◎◎◎◎◎予約システム（使用予約）マシンタイム予約・支援依頼について
B-1-5◎◎◎◎◎費用利用料金・技術支援料等について
B-1-6●●●●●ファイルサーバ（サインアップ）データ取り出し用NASユーザー作成と使用方法
B-2-1●●●●●安全：電離放射線教育訓練放射線発生装置である電子顕微鏡を安全に取り扱うための教育訓練。（推奨）所属部局の教育訓練を受講してください
B-3-1◎◎◎●●安全：高圧ガス教育訓練試料室のリークやプラズマクリーナーで使用する高圧ガスを安全に取り扱うための教育訓練。所属部局の教育訓練を受講してください
B-4-1◎◎●●◎安全：寒剤教育訓練試料汚染防止装置（ACD)・EDS検出器で使用する液体窒素を安全に取り扱うための教育訓練。所属部局の教育訓練を受講してください
B-5-1◎◎◎◎◎共通設備：装置概要設置室当該装置、周辺機器、設置場所を確認。
B-5-2本体本体の構成要素（鏡筒（照射系・対物レンズ・結像系）・検出器・試料室・制御PC・電源・真空系・冷却系等）
B-5-3周辺機器ホルダステーション・プラズマクリーナー・ガス警報器・空気清浄機・除湿機・エアコン・輻射パネル・磁場キャンセラー・アクティブ除震等
C-2-1◎◎◎◎◎試料交換任意（標準試料）試料着脱試料ホルダ（２軸傾斜ホルダ）の取扱い。
精密ピンセット・真空ピンセット・TEMグリッドの取扱い。		最も故障やトラブルの多いポイント
C-2-2ホルダクリーニングイオンクリーナー・プラズマクリーナーの取扱い
C-2-3ホルダ挿抜ホルダ状態確認・ステージ初期化・インギャップ絞り引抜・ホルダ挿入・ホルダ引抜試料室・予備排気について理解する。
C-3a-1◎◎◎◎◎共通：開始・中断・終了開始前確認モニタOn,真空度・高圧・エミッション・ステージ・附帯装置確認
C-3a-2終了前確認モニタOFF,真空度・高圧・エミッション・ステージ・附帯装置確認
C-3a-3中断エミッションOFF/ビームバルブ閉
C-3a-4データ取出NAS保存・データ取出用PC保存
C-3a-5ログ記録予約システムの設備ページ
C-3b-1●●◎●●共通：加速電圧昇圧（加速電圧ON）停止若しくはスタンバイ状態から使用加速電圧に昇圧。
アライメントファイル読込
C-3b-2降圧（加速電圧OFF）加速電圧OFF/スタンバイ
C-3c-1◎◎◎◎◎共通：エミッションエミッションOn加速電圧確認・暗電流確認・（フラッシング）・エミッションOn
C-3c-2エミッションOff（ビームバルブ閉）・エミッションOFF・暗電流確認
C-3d-1◎◎●※–共通：ACDLN2補給ヒーター取り外し・寒剤汲み出し・寒剤補給
C-3d-2ACDヒートヒーター取付・ACDヒート開始
TEM-1-1◎◎◎◎◎TEMTEM基礎マイクログリッド・支持膜（Au微粒子）TEMでサンプルを見て状態確認。簡易的に写真も取る。アライメントファイル読み込み
TEM-1-2モード選択
TEM-1-3ビーム出し
TEM-1-4ビーム探し
TEM-1-5倍率変更
TEM-1-6高さ調整
TEM-1-7照射系調整（スポットサイズ・コンデンサ絞り・ブライトネス・センタリング）
TEM-1-8試料移動
TEM-1-9電圧軸合せ
TEM-1-10非点補正
TEM-1-11フォーカス合わせ
TEM-1-12ハイコントラスト絞り
TEM-1-13像観察（カメラ）
TEM-1-14像撮影
TEM-2-1○○○○○DIFF:基礎単結晶（Si基板）制限視野電子回折・回折パターン撮影制限視野絞り挿入
TEM-2-2モード選択（DIFF)
TEM-2-3カメラ長選択
TEM-2-4スポットセンタリング
TEM-2-5DIFFフォーカス（簡易）
TEM-2-6DIFFフォーカス（平行照射）
TEM-2-7DIFF観察（カメラ）
TEM-2-8DIFF撮影
TEM-3-1○○○○○DIFF：方位微調整単結晶基板の晶帯軸入射・2波励起（最も近い方位のみ）晶帯軸（スポット)
TEM-3-2晶帯軸（菊池線)
TEM-3-32波
TEM-4-1○○○○○DIFF方位出し（易）方位出し（単結晶・粗大粒）シミュレーション
TEM-4-2試料傾斜
TEM-5-1△△△△△DIFF：方位出し（並）多結晶（Au蒸着膜）方位出し（多結晶）試料傾斜（DIFFモード）
TEM-5-2試料傾斜（像モード）
TEM-6-1○○○○○TEM:BF・軸外DFTEM（明視野法）SAD表示
TEM-6-2対物絞り挿入
TEM-6-3BF像表示
TEM-6-4TEM（暗視野（軸外））軸外DF像表示
TEM-7-1△△△△△TEM:DF（軸上）TEM（暗視野法）SAD表示
TEM-7-2スポット選択
TEM-7-3対物絞り挿入
TEM-7-4DF像表示
TEM-7-5暗視野撮影（画像積算・長時間露光）
TEM-8-1△△△△△TEM:HREM単結晶（Si基板）TEM（高分解能法）視野選択
TEM-8-2方位合わせ
TEM-8-3電圧軸合せ
TEM-8-4平行照射/明るさ設定
TEM-8-5非点補正
TEM-8-6フォーカス合わせ
TEM-8-7高分解能像撮影（through-focus）
TEM-9a-1▲▲▲▲▲DIFF:NBD多結晶TEM（NBD）視野選択
TEM-9b-1▲▲▲▲▲DIFF:CBD単結晶TEM（CBD）視野選択
TEM-10-1※––––TEMコレクタ調整支持膜TEMコレクタ調整
STEM-1-1○○○–○STEMSTEM基礎Au微粒子設定読込・検出器選択・カメラ長選択・絞り選択・像表示・BF/ADF・中低倍・像記録モード変更
STEM-1-2アライメントファイル読み込み
STEM-1-3カメラ長選択
STEM-1-4ビーム調整（簡易）
STEM-1-5コンデンサ絞り選択
STEM-1-6検出器選択
STEM-1-7像表示
STEM-1-8スキャンローテーション
STEM-1-9高さ調整
STEM-1-10フォーカス・非点合わせ
STEM-1-11像記録
STEM-2-1△△–––STEM（高分解能）単結晶（Si基板）STEM（高倍・含ロンチグラム調整）視野選択（TEM）
STEM-2-2方位合わせ（TEM)
STEM-2-3モード変更
STEM-2-4ロンチグラム表示（US）
STEM-2-5方位合わせ
STEM-2-6高さ合わせ
STEM-2-7コマ・非点合わせ
STEM-2-8コンデンサ絞り選択1
STEM-2-9ロンチグラム表示（Orius）
STEM-2-10プローブサイズ選択
STEM-2-11カメラ長選択
STEM-2-12コンデンサ絞り選択2
STEM-2-13検出器選択
STEM-2-14像表示
STEM-2-15スキャンローテーション
STEM-2-16フォーカス・非点合わせ（コレクタ）
STEM-2-17フォーカス・非点合わせ（高精度）
STEM-2-18像記録
STEM-3-1○○△–△STEM-EDS積層膜点分析・線分析・マッピング視野選択（STEM）
STEM-3-2プローブ調整
STEM-3-3傾斜調整
STEM-3-4EDS-画像取得
STEM-3-5EDS-スペクトル取得
STEM-3-6EDS-点分析・連続点分析
STEM-3-7EDS-マッピング
STEM-3-8EDS-解析
STEM-4-1▲▲–––STEM-EELS単結晶STEM-EELS視野選択（STEM）
STEM-5-10※※–––STEMコレクタ調整Au微粒子STEMコレクタ調整

凡例

◎ 必須 ● 推奨 ○ 選択（初級者向け） △ 選択（中級者向け） ▲ 選択（上級者向け） ★ 特殊 ※ 管理者向け – 設定無し

]]> 2499 TEMトレーニング項目 https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/tem%e3%83%88%e3%83%ac%e3%83%bc%e3%83%8b%e3%83%b3%e3%82%b0%e9%a0%85%e7%9b%ae%ef%bc%88%e6%ba%96%e5%82%99%e4%b8%ad%ef%bc%89/ Sun, 29 Oct 2023 11:52:58 +0000 https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/?p=2462 ... TEMトレーニング項目]]> 本ページではTEMを操作する上で必要な標準トレーニング項目をまとめています。
本ページに基づいた標準トレーニングは現在準備中であり、内容が変更になる場合があります。
トレーニングと使用許可の概要についてはこちらをご覧ください。

データ解析や像解釈など得られたデータの利用方法についてはサンプルや実験目的ごとに必要となる知識や技能が異なります。
参考：ARIM-IMR チュートリアルシリーズ（透過電子顕微鏡入門と材料科学）

トレーニング項目詳細はこちら

トレーニング区分

  1. 基本：手続きや安全に関する項目。ガイダンス
  2. 共通：TEM/STEMを利用するうえで必要な共通項目。
  3. TEM：TEMモード・電子回折モードを利用するために必要な項目。
  4. STEM：STEMモードを利用するために必要な項目。
  5. 特殊：特殊実験

必須技能と選択技能

  • 必須技能：装置を安全かつ故障等のトラブルを生じさせずに使用するための技能。
  • 選択技能：サンプルや実験目的ごとに選択される技能。

トレーニングの段階「受講」と「修得」

  • 受講：トレーニング項目ごとにその内容の説明を受けた段階。
  • 修得：トレーニング項目の内容をスタッフの補助なしで実施できることを確認された段階。

装置毎の主なトレーニング項目

＃ARM200F-WARM200F-S2100plus2000EXII002B項目主な内容備考
基本１◎◎◎◎◎手続き利用申請：使用予約：予約システム：費用：
基本２●●●●●安全：電離放射線放射線発生装置である電子顕微鏡を安全に取り扱うための教育訓練。（推奨）所属部局の教育訓練を受講してください
基本３◎◎◎●●安全：高圧ガス試料室のリークやプラズマクリーナーで使用する高圧ガスを安全に取り扱うための教育訓練。所属部局の教育訓練を受講してください
基本４◎◎●●◎安全：寒剤試料汚染防止装置（ACD)・EDS検出器で使用する液体窒素を安全に取り扱うための教育訓練。所属部局の教育訓練を受講してください
共通1◎◎◎◎◎設備：装置概要当該装置の構成要素、周辺機器、設置場所を確認。
共通2◎◎◎◎◎試料交換薄膜試料のホルダへの着脱。ホルダ・試料のクリーニング。ホルダの鏡筒への挿抜最も故障やトラブルの多いポイント
共通3a◎◎◎◎◎共通開始/終了時の状態確認・中断・再開・データ取出・ログ記録
共通3b●●◎●●共通・加速電圧加速電圧ON/OFF
共通3c◎◎◎◎◎共通・エミッションエミッションOn/OFF
共通3d◎◎●※–ACDLN2補給・ACDヒート
TEM1◎◎◎◎◎TEM基礎設定読込・試料移動・ビーム調整・倍率変更・モード選択・像撮影・
TEM2○○○○○DIFF:基礎制限視野電子回折・回折パターン撮影
TEM3○○○○○DIFF：方位微調整単結晶基板の晶帯軸入射・2波励起（最も近い方位のみ）
TEM4○○○○○DIFF方位出し（易）方位出し（単結晶・粗大粒）
TEM5△△△△△DIFF：方位出し（並）方位出し（多結晶）
TEM6○○○○○TEM:BFTEM（明視野法）
TEM7△△△△△TEM:DFTEM（暗視野法）
TEM8△△△–△TEM:HREMTEM（高分解能法）
TEM9a▲▲▲▲▲DIFF:NBDTEM（NBD）
TEM9b▲▲▲▲▲DIFF:CBDTEM（CBD）
TEM10※––––TEMコレクタ調整TEMコレクタ調整
STEM１○○○–○STEM基礎設定読込・検出器選択・カメラ長選択・絞り選択・像表示・BF/ADF・中低倍・像記録
STEM２△△–––STEM（高分解能）STEM（高倍・含ロンチグラム調整）
STEM３○○△–△STEM-EDS点分析・マッピング
STEM４▲▲–––STEM-EELSSTEM-EELS
STEM５※※–––STEMコレクタ調整STEMコレクタ調整
特殊1★★–––STEMトモグラフィ
特殊2–––★–試料加熱（バルク）
特殊3★★★––試料加熱（Prototips）
特殊4★★★★–試料冷却

凡例

◎ 必須 ● 推奨 ○ 選択（初級者向け） △ 選択（中級者向け） ▲ 選択（上級者向け） ★ 特殊 ※ 管理者向け – 設定無し

]]> 2462