本ページは、東北大学内で公開されている材料物質向けTEMを独自に調査したものです。実際に使用を希望される場合は各部門の担当者までお問い合わせください。
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| 装置 | 型番/形式 | FE *1 | 収差補正 *2 | 高分解能 *3 | 高傾斜 *4 | EDS *5 | マップ *6 | EELS *7 | 備考 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 分析TEM | TOPCON 002B (分析) | ○ | ○ | ||||||
| FE-TEM/STEM | ARM-200F (分析） | ○ | TEM/STEM | ◎ | ○ | ○ | ○ | ◎ | ナノプラ |
| FE-TEM/STEM | ARM-200F (マテ) | ○ | STEM | ◎ | ○ | ○ | ○ | マテ系外 | |
| TEM/STEM | 2100HR (マテ） | ○ | ○ | ○ | マテ系外 | ||||
| FE-TEM/STEM | 2100F (工学部) | ○ | ○ | ○ | ○ | 学内料金 | |||
| FE-TEM | HF2000 (工学部） | ○ | ○ | ○ | 学内料金 | ||||
| 300kVFE-TEM/STEM | Titan80-300 (先端） | ○ | TEM | ◎ | ○ | ○ | ○ | 学内料金 | |
| 300kVFE-TEM/STEM | TitanG2cubed (先端） | ○ | TEM/STEM | ◎ | ○ | ○ | 学内料金 | ||
| TEM | JEM-2000EXII (分析) | ◎ | フィルム ￥400/枚 |
||||||
| TEM | 2100HC (マテ) | ○ | マテ系外 | ||||||
| イオンミリング | Model 1010 (分析) | ||||||||
| イオンミリング | PIPS (マテ) | マテ系外 | |||||||
| イオンミリング | PIPS (工学部) | マテ系外 | |||||||
| イオンスライサ | EM-09100 IS (分析) | ||||||||
| FIB | Quanta3D (分析) | 学内料金 | |||||||
| FIB | Versa3D (分析) | 学内料金 | |||||||
| FIB | JIB-4600F (マテ） | マテ系外 （代行） |
（分析） 分析電子顕微鏡室
（先端） 先端電子顕微鏡センター
（金研） 金属材料研究所
（工学部） 工学部技術部
（マテ） マテリアル・開発系
*1 電界放出型電子銃
*2 球面収差補正
*3 高分解能像（◎は収差補正装置搭載）
*4 ○約35° ◎約60°
*5 組成分析（EDS）
*6 マッピング
*7 EELS
2015/8/27 調べ
