TEM講習会:初回ガイダンス (2024/4/24に開催した、ガイダンスの録画と配布資料です。併せてご覧ください。)
当室で提供する業務を利用する場合は、利用者所属・業務内容・目的等に応じて利用条件・申し込み方法・料金等が異なります。ご利用を希望される方ははじめに本ページに目を通しておいてください。
- 利用者区分
- 当室が提供する業務
- 使用許可とトレーニング
- ユーザーファシリティ
- 利用出来る装置
- 利用申請方法
- マシンタイムの予約と技術支援の依頼について
- 利用申請に於ける注意点
- 成果公開(分析枠)
- 利用料金
- 支払財源(分析枠)
- 謝辞・共著(共同研究)についてのお願い
利用者区分
- 本学構成員
- 所内利用者
- 所外利用者
- 学外
当室が提供する業務
- 機器利用
- 利用者が自ら実験装置・機器を直接操作して実験を行うためのマシンタイムを提供する。
- トレーニング
- 機器利用を希望する利用者に操作方法のトレーニングを提供する。
- 技術支援
- 技術補助 当室スタッフが、機器利用する利用者の実験操作の補助を行う。
- 技術代行 当室スタッフが、利用者に代わって装置の操作を行う。
- 標準 学術的判断を伴わないもの。
- 高度 スタッフによる学術的判断が必要なもの。
- 技術相談 利用者の求めに応じて当室スタッフが実験に関する技術的助言を行う。
- 共同研究
使用許可とトレーニング
トレーニングについて詳しくはこちらをご覧ください。
- 当室の装置を利用者自身が直接使用(操作)するためには装置毎に使用許可を得る必要があります。
- トレーニングの段階に応じて使用許可の範囲が異なります。十分な使用技能・管理技能を有する利用者はスタッフ不在時でも単独使用が可能です。
- 既存ユーザーは、現時点(2023/11/01)における使用経験のある装置を使用できます。
- 利用者の希望に応じてトレーニングを行う場合は、当該装置の利用料及び技術支援料が生じます。
- 不定期に実施する利用者講習会(無償)でもトレーニングを提供する予定です。
- 利用者の技能水準(受講・修得状況)に基づき、当室(装置責任者)の判断において装置毎に使用を許可します。
- (学内者のみ)利用を希望する装置毎に「利用者登録」を行ってください。トレーニング内容決定の参考にします。現時点(2023/11/01)では電子顕微鏡のみが対象です。
使用許可と技能水準の目安
レベル | 使用許可 | 技能水準 | 備考 |
4 | 営業日以外使用可 (土日祝・時間外使用可) | 必須技能修得・選択技能修得 | 緊急時の対応が可能なこと |
3 | 営業日内で延長可 (平日夜間使用可) | 必須技能修得・選択技能修得 | 未修得の技能は使用不可 |
2 | 営業時間内単独使用可 | 必須技能修得・選択技能受講 | 未受講の技能は使用不可 |
1 | 要技術補助(単独使用不可) | 必須技能受講 | |
0 | 直接操作不可 (技術代行・立会実験のみ) | トレーニング受講前 |
- 必須技能:装置を安全且つ、故障させずに使用するための基本的な取扱いに関する知識と技能。
- 選択技能:サンプルや実験目的ごとに必要な知識と技能。
TEMトレーニング項目
試料作製関係のトレーニング項目は準備中です。
トレーニングについて(暫定版)
- トレーニング対象の電子顕微鏡はJEM-ARM200F 及びJEM-2100plusとなります。
- JEM-2000EXII,EM002Bについてはトレーニングの提供は行っておりません。
- トレーニングは原則として当室で準備した標準サンプルを使用します。
- 持込試料によるトレーニングメニューはございません。但し、基本トレーニング修了者の場合は個別の依頼に基づき対応可能な場合もありますので、お問い合わせください。
- 他部局等で同一機種の使用経験がある場合は、トレーニング内容を一部省略可能ですが、当室のハウスルール等についての説明が必要となりますので、初回利用前にトレーニングをご依頼ください。
- トレーニングの主な内容は安全及び装置を故障させないための基本操作に関するものです。応用的な利用法に関してトレーニングが必要な場合は別途ご相談ください。
ユーザーファシリティ
- 当室は実験代行等も受け付けていますが、原則的にユーザーファシリティです。
- 利用料金や支援体制は、利用者自らが装置を直接操作し実験する技能を身につけることを意図して設計されています。(利用料金・マシンタイム確保の点で有利になります)
原則ユーザーファシリティの理由
- 支援スタッフは必ずしも利用者の分野に於ける研究経験が無いため、利用者自ら実験操作を行った方が高品質なデータが得られる可能性が高い為。
- 支援スタッフの人員が限られており、全ての依頼実験に対応することが困難であるため。
- 利用者自身のスキルアップの為。
- ハイスキルユーザーが増えることにより、装置の稼働率の向上が期待出来る為。
利用出来る装置
- 当室所有装置
当室の予算で導入された装置- 電子顕微鏡 JEM-2000EXII、EM-002B、JEM-2100plus、JEM-ARM200F(STEMコレクター機)
- 試料作製装置 イオンスライサー・イオンミリング(model1010)
- その他 オスミウムコーター・ 試料作製準備室
- 委託管理装置
本学構成員より当室が管理を委託された装置- 試料作製装置 PIPSII(No.1)
- ARIM事業関連装置
文科省ARIM事業(前ナノプラ事業)で整備された装置。- 電子顕微鏡 JEM-ARM200F(Wコレクター機)
- FIB Quanta 3D・Versa 3D
- 試料作製装置 PIPSII(No.2)
- X線回折装置 SmartLab 9SW
- 熱分析装置 (TG-DTA)TG8120/ (DSC)DSC8230
利用申請方法
当室の利用申請方法には以下の2つの枠組みがあります。
- 分析枠(課題審査なし)
下記の条件を全て満たす場合は、分析電顕室で直接受け付けます。利用手続き- 利用者が本学構成員(社会人ドクター等を含む)である。
- 当室所有装置または、委託管理装置を利用する。
- 課題情報・利用成果を公開する。
- 本学が管理する予算を使用して利用料金を支払う。
- 学外に対して請求が必要な場合はCINTS枠を利用してください。
- 学外に対して請求が必要な場合はCINTS枠を利用してください。
- CINTS枠(課題審査有り)
分析枠が使用できない場合は、CINTS*へ利用申請してください。- 本学構成員以外の利用
- ARIM事業関連装置を利用する場合(公開課題の場合、要報告書提出)
- 利用成果の一部または全部の非公開を希望する場合
- 学外に対する料金請求が必要な場合
利用申請に於ける注意点
- 分析枠の利用申請は、年度毎、研究室毎、支払財源毎に必要となります。
- CINTS枠の利用申請は、年度毎、課題毎に必要となります。
- 研究室内に複数の利用者がいる場合、同一の利用申請が使用可能かどうかは、申請課題の内容と、支払財源毎の規程に依存しますので、予めご確認ください。
- 申請された内容以外の目的での利用はできません。
- 共同研究や受託研究等で当室を利用される場合、共同研究・受託研究先に契約上の問題がないか予めご確認ください。(特に秘密保持等厳密な管理が必要な場合は申請時に必ずその旨をお知らせください。)
成果公開(分析枠)
当室の装置及び支援で得られた成果は公開が原則となります。
- 研究課題・利用者所属・利用者名・利用装置はHP等で公開されます。
- 研究成果は論文・学会発表等で公開されることが求められます。
- 期限等は定めませんが、将来的に非公開にする予定での利用はできません。
- 利用成果の全部または一部について非公開を希望する場合は「CINTS」の非公開課題
利用料金
当室の装置及び支援を利用した場合は、別途定める以下の料金が生じます。
- 装置使用料
- 技術支援料
- 技術補助(準備中)
- 技術代行(標準)
- 技術代行(高難度)(準備中)
支払財源(分析枠)
分析枠のお支払には下記の財源がご使用になれます。
- 大学運営資金
- 寄付金
- 科研費
- 共同研究費
- 受託研究費
- 受託事業費
- その他
分析枠の使用料金は、原則として、月末締め、翌月報告、四半期毎請求となります。外部資金を使用される場合で執行期限が定められている場合、時期によってはご利用になれない場合がありますのでご注意ください。
謝辞・共著(共同研究)についてのお願い
1.装置利用について
所外の方が当室の装置(当室所有装置・委託管理装置・ARIM事業関連装置)を利用して得られたデータを論文投稿や学会発表で使用する場合は、「謝辞」あるいは「実験方法」において、当室の装置を利用した旨を記載してください。
所内利用者の方がユーザーファシリティとしての装置利用の場合は記載不要です。
記載例
- 【和文】S/TEM観察には東北大学金属材料研究所材料分析研究コアのJEM-ARM200Fを使用しました。
- 【英文】For S/TEM observation, a JEM-ARM200F at Analytical Research Core for Advanced Materials, Institute for Materials Research, Tohoku University, was used.
2.技術支援について
当室スタッフの支援で得られたデータを論文投稿や学会発表で使用する場合は、(分析枠・CINTS枠のいずれを利用した場合でも)支援の程度に応じてスタッフの貢献を明記してください。
- 支援の程度は下記を参考に利用者自身でご判断ください。
- 共同研究を希望される場合は、予めスタッフまでご相談願います。
- 依頼される実験の難易度・分量、及び、当室の設備、スタッフの技能より支援実施が困難と判断される場合はお断りする場合もありますので予めご了承ください。
「不要」ユーザーファシリティとしての装置利用の場合
- 利用者による直接操作
- 軽度な技術補助
「謝辞」スタッフによる学術的判断が不要な支援の場合
- 標準的な試料作製。
- 視野探し、方位出しが不要な観察。
- 中~低倍の形態観察。EDSマッピング等。
記載例
- 試料作製
- 【和文】TEM試料は東北大学金属材料研究所材料分析研究コアの○○氏の支援で作製されました。
- 【英文】The TEM samples were prepared with the cooperation of Mr. XX of Analytical Research Core for Advanced Materials, Institute for Materials Research, Tohoku University.
- 観察代行
- 【和文】S/TEM観察においては東北大学金属材料研究所材料分析研究コアの○○氏の支援をうけました。
- 【英文】S/TEM observations were made with the cooperation of Mr. XX of Analytical Research Core for Advanced Materials, Institute for Materials Research, Tohoku University.
「共著(共同研究)」スタッフによる学術的判断が必要な支援の場合
- 高難度の試料作製。
- 視野探し、方位出しが必要な観察。
- 指数付け、シミュレーション等のデータ解析。
- 発表内容についてスタッフのコメントが必要な場合
共同研究(共著)の場合は当該スタッフについて謝辞記載は不要です。(共著に含まれないスタッフについては謝辞に記載してください)
3.CINTS(ARIM公開課題)利用について
CINTS枠を利用して得られたデータを用いて成果発表する場合は、謝辞にARIM課題番号を記載してください。(非公開課題の場合は不要)
記入例(CINTS枠/ARIM公開課題)
- 【和文】本研究(の一部)は,文部科学省マテリアル先端リサーチインフラ事業(東北大学(ご利用の支援分野)プラットフォーム)の支援を受けて実施されました。(JPMXP12●●TU●●●●)
- 【英文】(A Part Of) This Study Was Supported By Tohoku University ○○○ Platform In MEXT Advanced Research Infrastructure for Materials and Nanotechnology in Japan. (JPMXP12●●TU●●●●)