試料作製

現在スタッフ不足のためセルフ利用以外の支援を制限しています。技術支援を希望される方はCINTS経由でのご利用をお願いします。

当室ではTEM試料作製装置が利用できます。

対応可能な試料

  • 金属平面、金属断面
  • 半導体平面、半導体断面
  • ナノ粒子
  • セラミックス（要相談）
  • 他（要相談）

試料作製方法

  • FIB法
  • イオンミリング法
  • イオンスライサー法（要相談）
  • 懸濁分散法（要相談）
  • 粉砕法（要相談）
  • 電解研磨法（要相談）
  • 他（要相談）

 

試料作製手順