本ページは当室を利用する上で役立つ情報のまとめです(現在準備中)
TEM使用方法
- JEM-2100plus
- JEM-ARM200F
- JEM-2000EXII
- EM-002B
トレーニング
- 試料着脱
- 昇圧・ビーム出し・照射系軸調整・休止・終了
- カメラ操作(表示・記録)
- TEM:中低倍像観察
- TEM:DIFF1(方位出し不要の場合)
- TEM:DIFF2(要方位微調整・粗大粒の場合)
- TEM:DIFF3(要方位出し・粗大粒の場合)
- TEM:DIFF4(NBD・CBED)
- STEM:中低倍像観察
- STEM:EDS
- STEM:EELS
- STEM:高分解能観察1(微粒子・単原子・方位出し不要の場合)
- STEM:高分解能観察2(バルク結晶試料・要方位出し)
試料作製関係
- イオンミリング(平面)
- イオンミリング(断面)
- イオンスライサ
- 電解研磨
- FIB
- 懸濁法