技術情報(準備中)

本ページは当室を利用する上で役立つ情報のまとめです(現在準備中)

TEM使用方法

  1. JEM-2100plus
  2. JEM-ARM200F
  3. JEM-2000EXII
  4. EM-002B

トレーニング

  1. 試料着脱
  2. 昇圧・ビーム出し・照射系軸調整・休止・終了
  3. カメラ操作(表示・記録)
  4. TEM:中低倍像観察
  5. TEM:DIFF1(方位出し不要の場合)
  6. TEM:DIFF2(要方位微調整・粗大粒の場合)
  7. TEM:DIFF3(要方位出し・粗大粒の場合)
  8. TEM:DIFF4(NBD・CBED)
  9. STEM:中低倍像観察
  10. STEM:EDS
  11. STEM:EELS
  12. STEM:高分解能観察1(微粒子・単原子・方位出し不要の場合)
  13. STEM:高分解能観察2(バルク結晶試料・要方位出し)

試料作製関係

  1. イオンミリング(平面)
  2. イオンミリング(断面)
  3. イオンスライサ
  4. 電解研磨
  5. FIB
  6. 懸濁法

便利なソフトウェア(無償・有償)

  1. ReciPro
  2. CrysTBox
  3. ImageJ
  4. Vesta
  5. GMS/DigitalMicrograph Software(GATAN)
  6. Analysis Station(オフライン版)(JEOL)

その他の技術情報