装置等使用料 （電子顕微鏡等） 2025年度 4月~
表示されている料金の単位は(￥/h)(税抜き)となります。2025/03/31現在の料金です。
利用料金は変更される場合があります。
セルフ利用（ユーザーファシリティ）の場合は、装置毎に操作ライセンスが必要となります。
| # | 受託費・ 外部資金 | 区分 | 装置等 | 学内料金 | 学外料金1 | 学外料金2 | 備考 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 01 | ARIM | TEM | JEM-ARM200F (Wコレクタ) | 4,100 | 6,560 | 19,400 | *1 |
| 02 | TEM | JEM-ARM200F （STEMコレクタ） | 4,100 | 6,560 | 19,400 | ||
| 03 | TEM | EM-002B | 3,000 | 4,800 | 6,000 | ||
| 04 | TEM | JEM-2000EX II | 2,000 | 3,200 | 4,000 | ||
| 05 | TEM | JEM-2100plus | 3,200 | 5,120 | 5,700 | ||
| 06 | ARIM | FIB | Versa 3D LoVac | 5,100 | 8,160 | 10,000 | *1 セルフ利用の場合 |
| 07 | ARIM | FIB | Quanta 3D | 3,000 | 4,800 | 6,300 | *1 セルフ利用の場合 |
| 08- | ARIM | FIB | Versa/Quanta （技術代行適用時） | 4,050 | 6,480 | 8,150 | *1 技術代行の場合 （装置選択不可） |
| 09 | ARIM | FIB | AMBER X | 3,800 | 6,080 | 38,400 | |
| 10 | 試料作製 | イオンスライサ EM-09100IS | 2,000 | 3,200 | 3,700 | 前処理**を含まない | |
| 11 | ARIM | 試料作製 | イオンミリング PIPS II(B) | 1,100 | 1,760 | 2,600 | *1 前処理*を含まない |
| 12 | 試料作製 | イオンミリング PIPS II(A) | 1,100 | 1,760 | 2,600 | 前処理*を含まない | |
| 13 | 試料作製 | イオンミリング MODEL1010 | 400 | 640 | 1,500 | 前処理*を含まない | |
| 14 | オスミウムコーター NEOC-PRO | 1,100 | 1,760 | 2,800 | |||
| 50 | 試料作製準備室 | 800/半日(4h) | 1,280/半日(4h) | 2,400/半日(4h) | *2 | ||
| 51 | 試料作製消耗品 | 無料（準備室使用者） | 無料（準備室使用者） | 無料（準備室使用者） | *3 | ||
| 90 | 技術支援 | 技術支援料A | 3,000 | 3,000 | 7,900 | *4 | |
| 91 | 技術支援 | 技術支援料B | 5,900 | 5,900 | 11,800 | *4 |
装置等使用料 （その他の装置） 2025年度 4月~
| 受託費・ 外部資金 | 装置等 | 学内料金 | 学外料金1 | 学外料金2 | 備考 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| E1 | ARIM | 高出力全自動水平型多目的 X 線回折装置 Rigaku SmartLab 9SW | 1,200 | 1,920 | 4,000 | *1 |
| E2 | ARIM | 熱分析装置(DSC-DTA) Rigaku Thermo plus EVO II | 700 | 1,120 | 1,600 | *1 |
| E3 | 技術支援料A | 3,000 | 3,000 | 7,900 |
- *1 ご利用には「ナノテク融合技術支援センター」での手続きに沿って使用申込みをしていただくことになります。詳細はこちら
- *2 低速カッター、平行研磨機、回転湿式研磨機、バフ、ホットプレート、ディンプラー、光学顕微鏡等
- *3 研磨紙、補強用メッシュ、接着剤、研磨砥粒等一部消耗品は実費請求
- *4 「東北大学金属材料研究所材料分析研究コア分析電顕室設備等使用内規」第5条第2項にかかわる支援
- 表示されている料金の単位は(￥/h)(税抜き)となります。
- 2025/03/31現在の料金です。（利用料金は変更される場合があります。）
- 上記金額はユーザーが直接装置を利用した場合（ユーザーファシリティ・セルフ使用）の料金です。
- 占有（予約）時間に対して課金されます。
- 上記の料金に消費税および地方消費税相当額を加算した額を利用料金とします。（本学貸付基準による。）
- セルフ利用には各装置ごとにライセンスが必要になります。
- ライセンスの取得には定期講習会（無償）または又はオンデマンドのトレーニング（有償）受講が必要です。
- 受託費・外部資金の指定がある装置の利用にはCINTS経由での利用申請が必要です。
- 技術支援（観察代行、立ち会い観察、試料作製代行、データ解析）等のご依頼には、技術支援料が別途加算されます。
- 技術支援を利用される場合はCINTS経由での利用申請が必要です。
- イオンミリング*およびイオンスライサ**の料金は前処理（予備加工）済みの試料を持込、当室でイオン研磨加工のみを行った場合の料金になります。
ナノテク融合技術支援センター(CINTS)採択課題に関する取り扱い
- ナノテク融合技術支援センターで採択された成果公開型ユーザーにおいてARIM事業に対してデータ提供に合意した利用者については学内料金が適用されます。
- ナノテク融合技術支援センターで採択された成果公開型ユーザーにおいてARIM事業に対してデータ提供を行わない利用者については学外料金(1)が適用されます。
- 学内利用者のうち、ナノテク融合技術支援センターで採択された成果非公開型ユーザーについては学外料金(2)が適用されます。
技術支援料金の取扱い
- 技術支援を受けた場合には、利用料に加え、技術支援料Ａが加算されます。
- 高度な技術支援及び学術的知見に基づいた判断を伴う支援を受けた場合には、利用料に加え、技術支援料Ｂが加算されます。