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利用申請時の同意事項

以下は当室(分析枠)の利用申請手続きにおいて、同意をいただく項目をまとめたものです。本項目は必要に応じて追加修正される場合があります。(2025/04/30現在) 【申請から承認までの流れ(参考)】 同意事項一覧 1. 利用申請時の同意事項

[装置トラブル]JEM-ARM200F(Wコレクタ)不調による使用不可について(再発)(復旧しました)

本トラブルは復旧済みです。(2025/03/13現在) 金研分析電顕室 利用者各位 2025/02/10現在当室管理のTEM(JEM-ARM200F(Wコレクタ))が不調のため使用不可となっております。 左の操作パネルが [装置トラブル]JEM-ARM200F(Wコレクタ)不調による使用不可について(再発)(復旧しました)

[装置トラブル]JEM-ARM200F(STEMコレクタ)不調による使用不可及び定期講習会延期について

金研分析電顕室 利用者各位 2024/06/24現在当室管理のTEM(JEM-ARM200F(STEMコレクタ))が不調のため使用不可となっております。復旧時期は未定です。また、この不調に伴いTEM講習会(JEM-ARM [装置トラブル]JEM-ARM200F(STEMコレクタ)不調による使用不可及び定期講習会延期について

JEM-2100plus:STEM-BF/DF

💡 本ページはJEM-2100plusのクイックマニュアルです。 内容は変更される場合があります。 実際に装置を使用する場合は、事前にトレーニングを受けて下さい。 STEM-BF STEM-DF

JEM-2100plus:極微電子回折

💡 試料上に電子線を収束し、制限視野絞りよりも狭い領域からの回折パターンを取得する。 NBD/CBD 簡易的方法

JEM-2100plus:暗視野像観察

暗視野像(軸上) 💡 本ページはJEM-2100plusのクイックマニュアルです。 内容は変更される場合があります。 実際に装置を使用する場合は、事前にトレーニングを受けて下さい。 暗視野像(軸外)

JEM-2100plus:電子回折(基本)

💡 本ページはJEM-2100plusのクイックマニュアルです。 内容は変更される場合があります。 実際に装置を使用する場合は、事前にトレーニングを受けて下さい。