JEM-2100plus:技能講習:初級2

💡 本日の内容

  1. 試料汚染防止装置(ACD)

    💡 集束ビームを使用する場合(STEM/EDS)やその場観察におけるコンタミ防止。 LN2コールドフィンガーで試料周辺のガスをトラップする。

    1. LN2補給
    2. ACDヒート

    💡 真空度を上げるためではなく、あくまでもコンタミ対策。

  2. アライメントファイル

    💡 偏向系設定の復元・保存。

    1. 設定ファイル読み込み
    2. 設定ファイル保存
  3. 特殊像観察

    💡 基本的なTEM像の表示

    1. 明視野像(復習)

      💡 (小さい)対物絞りで光軸上の透過波を選択して結像

      1. 通常の像観察(スクリーン)
      2. 明視野像表示
        1. 制限視野絞り挿入/SA絞りセンタリング
        2. 回折パターン表示/透過波センタリング(PL)
        3. 対物絞り挿入/OLセンタリング
        4. 明視野像表示/倍率/明るさ調整
      3. CCD観察/撮影
    2. 暗視野像(軸上)

      💡 Beam Tlitで光軸上へ移動させた回折波を、対物絞りで選択して結像

      1. SA-DIFF表示(スクリーン)
      2. 透過波センタリング(PL)
      3. DarkTilt:回折スポット->スクリーン中央へ (Dark Tilt)
      4. 対物絞り挿入/OLセンタリング
      5. 暗視野像表示/倍率/明るさ調整
      6. CCD観察/撮影
    3. 暗視野像(軸外)

      💡 光軸外の回折波を、対物絞りで選択して結像

      1. SA-DIFF表示(スクリーン)
      2. 対物絞り挿入/回折スポット選択
      3. 暗視野像表示/倍率/明るさ調整
      4. CCD観察/撮影
  4. 極微電子回折

    💡 電子線を試料上で収束し、微小領域(制限視野絞りのサイズ以下)からの電子回折パターンを取得

    1. 簡易的方法
      1. 通常のTEM照射モードにおいて、小さなCL絞りとスポットサイズを選択し、試料上にビームを集束。
    2. NBD/CBD
      1. 専用のプローブ照射モードを用いて、試料上にビームを集束。
  5. STEM

    💡 STEM像の観察と取得

    1. ハードウェア
    2. TEM CENTER
    3. STEM-BF
    4. STEM-DF