JEOL JEM-2000EXII(200kV、LaB6)
設置年度：平成元年
特 徴：高傾斜観察( 試料傾斜角：X=±60°、Y=±38°）
分解能：0.23nm
高コントラスト観察
試料加熱ホルダー（最高加熱温度：約800℃）
試料冷却ホルダー
Imaging Diffraction Spectrometry
JEOL JEM-2000EXII(200kV、LaB6)
設置年度：平成元年
特 徴：高傾斜観察( 試料傾斜角：X=±60°、Y=±38°）
分解能：0.23nm
高コントラスト観察
試料加熱ホルダー（最高加熱温度：約800℃）
試料冷却ホルダー
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