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透過電子顕微鏡　JEM-2000EXII

JEOL JEM-2000EXII(200kV、LaB6)

設置年度：平成元年

特　　徴：高傾斜観察( 試料傾斜角：X=±60°、Y=±38°）

分解能：0.23nm

高コントラスト観察

試料加熱ホルダー（最高加熱温度：約800℃）

試料冷却ホルダー