当室の設備や支援を利用して取得したデータを用いて研究成果を発表される場合は、原則として、当室を利用した旨を謝辞に記載してください。対象には、学術論文、学会発表（口頭・ポスター）、学位論文等を含みます。
当室の設備整備・維持管理・利用支援には、複数の組織や事業、支援制度が関わっています。それぞれの枠組みにおいて、予算の確保、研究成果の把握・集計、支援実績の追跡等が必要となります。
関連する組織・事業が多岐にわたり、謝辞の記載が複雑になっております。利用者の皆様にはお手数をおかけしますが、ご利用に関係した組織・事業・支援制度について、該当する謝辞を記載していただきますようお願いいたします。関係しない組織・事業まで一律に記載する必要はありません。
特に学内利用者については、当室管理装置がCFC（コアファシリティ統括センター）の設備共用システム（SHARE）に登録され、SHAREへの登録・設備利用申請が必須となったことに伴い、CFCの設備等利用内規に基づく謝辞の記載も必要となります。このため、従来「所内利用者のセルフ利用は任意」としていた取扱いにかかわらず、学内利用者はSHARE経由での装置利用申請が必須となった結果として、所内・所外を問わず当室とCFC／SHAREの謝辞が必須になります。
本ページでは、それぞれの謝辞の記載例、複数の謝辞をまとめて記載する方法、記載を省略できる条件とその根拠を整理し、随時更新します。また、謝辞作成の負担を軽減するため、利用条件に応じた文案を作成する謝辞ジェネレーターを提供します。ご自身の利用条件において必要となる謝辞が不明な場合は、当室までお問い合わせください。
成果発表時のお願い
- 当室の装置・支援で取得したデータを用いた成果発表では、利用した組織・事業・支援制度に応じた謝辞を記載してください。
- 謝辞の要否は、発表時期ではなく実際に装置を利用した時期と利用区分によって決まります。
- 成果を発表したら、当室への成果報告もお願いします（ARIMの利用報告書とは別の手続きです）。
- 装置名を実験方法に記載することも推奨しますが、謝辞の代わりにはなりません。
謝辞記載が必要な理由と根拠
当室の装置は、分析電顕室（AEM）が管理主体として整備・維持管理・利用支援を行っています。ARIM事業に提供している装置も管理主体は当室です。このため利用区分（分析枠・ARIM枠など）にかかわらず、当室管理装置を利用した成果には当室への謝辞をお願いしています。あわせて、利用した枠組みに応じてCFC／SHARE、ARIM／CINTS等の謝辞が必要です。
| 区分 | 求められる内容 | 性格 | 根拠 |
|---|---|---|---|
| AEM（分析電顕室） | 当室の設備・支援を利用した旨の明記、初回成果の情報提供 | 利用申請時の同意事項（第9項・第10項）および当室ガイドライン・FAQ | 同意事項／ガイドライン第8項／FAQ Q8 |
| CFC／SHARE | CFC登録設備を利用した成果を学術論文等で発表する場合、設備等を利用した旨を謝辞に記載 | 規程（CFC設備等利用内規 第12条、2026年9月24日改正・施行） | 設備等利用内規／ご利用案内（記載例） |
| ARIM／CINTS | ARIM公開課題の成果に、指定文言と15桁のARIM課題番号を記載 | 事業上の記載要請（CINTS利用案内では「必ず」掲載と案内） | CINTS利用案内／CINTS規定 |
| 若手研究者支援制度 | 補助を実際に受けた場合に記載 | 制度上の記載要請（CFC案内） | CFCご利用案内 |
「規程」は規程・内規に定めのあるもの、「同意事項」は利用申請時に同意いただく利用条件、「記載要請」は各事業・制度からの記載のお願いです。各根拠の版・確認日は根拠資料をご覧ください。
利用形態別の謝辞一覧
現行運用（2026年11月13日時点）での基本的な組み合わせです。
| 利用形態 | AEM | ARIM／CINTS | CFC／SHARE | 基本形 |
|---|---|---|---|---|
| 学内・分析枠 | 必須 | 不要 | 必須 | AEM＋CFC統合文 |
| 学内・ARIM公開課題 | 必須 | 必須 | 必須 | AEM＋CFC統合文 ＋ ARIM／CINTS |
| 学外・ARIM公開課題（現行） | 必須 | 必須 | 原則対象外 | AEM単独 ＋ ARIM／CINTS |
| 学外・ARIM公開課題（SHARE適用開始後） | 必須 | 必須 | 適用時必須 | AEM＋CFC統合文 ＋ ARIM／CINTS |
| CINTS非公開課題 | 個別確認 | ARIM公開課題の謝辞は不要 | 個別確認 | 当室・CINTSにご相談ください |
- 分析枠は学内所属・学術目的・セルフ利用の方が対象です（学外の方はARIM（CINTS）枠をご利用ください）。
- 学外利用者へのSHAREの適用は2027年1月からの予定ですが、正式な開始日・対象はまだ確定していません。確定後に本ページとジェネレーターを更新します。
- CFC／SHAREの謝辞は、CFC（SHARE）に登録された設備の利用が対象です。当室管理装置のCFC登録は2026年10月です（2026年10月以降の利用が対象）。それより前の利用（過年度利用）には、当時の案内に従ってください。
- 若手研究者支援制度等は、該当する場合に追加します。
AEM＋CFC／SHAREの統合謝辞（学内利用者の基本形）
当室とCFC／SHAREの双方に必要な事項（当室を利用した旨、CFCの設備共用システムに登録された設備であること、設備番号・設備名称）を1文にまとめた記載例です。現行の学内利用者はこの文を基本としてください。
和文本研究は、東北大学研究推進・支援機構コアファシリティ統括センターの設備共用システムに登録されている、東北大学金属材料研究所 材料分析研究コア 分析電顕室の550・超高分解能透過電子顕微鏡（ダブルコレクタ）JEM-ARM200Fを用いて実施しました。
英文This work was supported by Research equipment sharing system, Tohoku University (550・Atomic resolution analytical electron microscope JEOL JEM-ARM200F (double corrector)), using equipment managed by the Division of Analytical Electron Microscopy, Analytical Research Core for Advanced Materials, Institute for Materials Research, Tohoku University.
当室の運用方針 CFCの記載例の構成要素（組織名・「設備共用システムに登録されている」・設備番号・設備名称）をそのまま含め、当室名を加えた統合文です。CFC内規第12条（利用した旨の記載）と当室同意事項第10項（利用の明記）の双方を満たします。 根拠：分析電顕室 利用申請時の同意事項（第9項・第10項、CINTS非公開課題の例外）、東北大学研究推進・支援機構コアファシリティ統括センター設備等利用内規 第12条（謝辞の記載）、東北大学 共用設備・機器ご利用案内（謝辞記載のお願い）
CFCの記載例どおりに別の文として記載することもできます。
和文本研究は、東北大学研究推進・支援機構コアファシリティ統括センターの設備共用システムに登録されている550・超高分解能透過電子顕微鏡（ダブルコレクタ）JEM-ARM200Fを用いて実施しました。
英文This work was supported by Research equipment sharing system, Tohoku University (550・Atomic resolution analytical electron microscope JEOL JEM-ARM200F (double corrector)).
設備番号は、SHAREの設備名称の頭に付いている番号です（CFC案内）。当室管理装置は利用区分ごとに枝番（_1：ARIM、_2：分析コア）がありますが、謝辞には枝番を除いた番号（例：550）を記載してください。
AEM単独の謝辞
CFC（SHARE）を利用していない場合（現行の学外ARIM利用者、CFC未登録装置、CFC登録前の利用など）は、当室への謝辞を記載してください。具体的な装置名を記載してください（装置名を記載しない場合も、少なくともTEM、FIBなど装置の種類を記載してください）。
和文本研究は、東北大学金属材料研究所 材料分析研究コア 分析電顕室の超高分解能透過電子顕微鏡（ダブルコレクタ）JEM-ARM200Fを利用して実施しました。
英文This work was carried out using equipment of the Division of Analytical Electron Microscopy, Analytical Research Core for Advanced Materials, Institute for Materials Research, Tohoku University (Atomic resolution analytical electron microscope JEOL JEM-ARM200F (double corrector)).
当室の運用方針 当室作成の記載例です（第10項は「その旨を明記」を求めるもので、固定文言の指定はありません）。 根拠：分析電顕室 利用申請時の同意事項（第9項・第10項、CINTS非公開課題の例外）、分析電顕室利用ガイドライン 第8項「成果報告と謝辞」、分析電顕室 ご利用に関するよくあるご質問（FAQ） Q8
ARIM／CINTSの追加謝辞
東北大学でのARIM事業の利用はCINTS（ナノテク融合技術支援センター）を通じて行われるため、本ページでは「ARIM／CINTS」を一つの区分として扱います。ARIMとCINTSについて別々の謝辞を重ねて記載する必要はありません。ARIM公開課題で取得したデータを用いる場合は、上記のAEM（学内の方はAEM＋CFC）の謝辞に加えて、CINTSが指定する次の文言と、採択された15桁のARIM課題番号を記載してください。
和文本研究は，文部科学省マテリアル先端リサーチインフラ事業（東北大学（ご利用の支援分野）プラットフォーム）の支援を受けて実施されました。（JPMXP12●●TU●●●●）
英文This study was supported by Tohoku University [support field] in MEXT Advanced Research Infrastructure for Materials and Nanotechnology in Japan. (JPMXP12●●TU●●●●)
公式資料で確認済み CINTS利用案内で指定された文言です。課題番号は採択された15桁の番号（JPMXP12●●TU●●●●）を記載します。 根拠：CINTS 利用案内（謝辞記載のお願い）、CINTS 規定（利用細則・ARIM設備利用約款・データ登録約款）、金研ARIM事業班 利用報告書について
- 課題番号は利用年度の課題番号を記載してください。複数の課題・年度にわたる場合は、関係する課題番号をすべて記載してください。
- 支援分野（プラットフォーム）名は、課題の採択通知等でご確認ください。
- ARIM事業の全国共通の記載例（課題番号「JPMXP12」のみの例）とは表記が異なります。東北大学（CINTS）の課題では、CINTSの指定文言を使用してください。
- CINTS非公開課題は、ARIM公開課題の謝辞は不要です。
その他の支援制度の謝辞
若手研究者に係る共用設備利用支援制度
本制度による利用料の補助を実際に受けた場合に追加してください（対象年齢・職位であることだけでは記載不要です）。2026年10月1日の制度変更により、支援の対象はCFC（SHARE）登録設備に限定されています。
和文本研究は、東北大学若手研究者に係る共用設備利用支援制度の支援を受けました。
英文This work was supported by Support system for young researchers to use research equipment, instruments and devices in Tohoku University.
コアファシリティ構築支援プログラム
CFCは、2021年7月以降のCFC登録設備の利用分について次の追加謝辞を案内しています（事業番号の末尾2桁は設備利用年。例：2022年利用→JPMXS0440600022）。本事業は2025年度までで、当室管理装置のCFC登録（2026年10月）は事業期間後のため、当室装置の利用については通常該当しません。他のCFC登録設備を利用した場合は、CFCの案内に従ってください。確認できない事業番号は記載しないでください。
和文本研究は文部科学省先端研究基盤共用促進事業（コアファシリティ構築支援プログラム）JPMXS04406000●●で共用された機器を利用した成果です。
英文This work was the result of using research equipment shared in MEXT Project for promoting public utilization of advanced research infrastructure (Program for supporting construction of core facilities) Grant Number JPMXS04406000●●.
技術支援者への謝辞・共著
当室スタッフの支援で得られたデータを用いる場合は（分析枠・CINTS枠のいずれでも）、支援の程度に応じてスタッフの貢献を明記してください。
- 不要：ユーザーファシリティとしての装置利用（利用者による直接操作、軽度な技術補助）
- 謝辞：スタッフによる学術的判断が不要な支援（標準的な試料作製、視野探し・方位出しが不要な観察、中～低倍の形態観察、EDSマッピング等）
- 共著（共同研究）：学術的判断が必要な支援（高難度の試料作製、視野探し・方位出しが必要な観察、指数付け・シミュレーション等の解析、発表内容へのコメント）。共同研究を希望される場合は、あらかじめスタッフにご相談ください。
和文TEM試料は東北大学金属材料研究所 材料分析研究コア 分析電顕室の○○氏の支援により作製されました。
英文The TEM samples were prepared with the assistance of [Name] of the Division of Analytical Electron Microscopy, Analytical Research Core for Advanced Materials, Institute for Materials Research, Tohoku University.
スタッフが共著者となった場合、そのスタッフ個人への謝辞は不要です（共著に含まれないスタッフは謝辞に記載してください）。ただし、共著であっても当室・CFC・ARIM等の施設・事業への謝辞は不要になりません。
謝辞の統合・省略について
複数の謝辞を1文にまとめること（統合）と、組織・事業への謝辞そのものを省略することは異なります。統合しても、各組織・事業を識別する情報（組織名、設備番号・設備名称、課題番号等）は省略しないでください。
| 省略できる場合 | 省略できるもの | 根拠 |
|---|---|---|
| ARIM公開課題以外の利用（分析枠など） | ARIM／CINTSの謝辞 | CINTS利用案内（記載対象は研究支援＝ARIM課題の成果） |
| CINTS非公開課題 | 当室への謝辞・成果報告（同意事項第9・10項）、ARIM公開課題の謝辞 | 当室同意事項（CINTS非公開課題は第4・9・10・14項の同意不要）。CFC等その他の記載は個別にご確認ください。 |
| CFC（SHARE）登録設備を利用していない場合（登録前の利用、未登録装置、現行の学外利用） | CFC／SHAREの謝辞 | CFC設備等利用内規 第1条・第12条（対象は登録設備の利用） |
| 若手研究者支援制度の補助を受けていない場合 | 若手支援制度の謝辞 | CFC案内（制度の支援を受けた場合の記載例） |
| スタッフが共著者となった場合 | 当該スタッフ個人への謝辞 | 当室「初めにお読みください」第12項 |
上記以外で省略の可否が不明な場合は、省略せずに当室へお問い合わせください。確認できた条件は本ページに随時追加します。
装置名称・設備番号一覧
当室管理装置のCFC（SHARE）設備番号です。番号は研究基盤利用ポータル、CFC利用設備等及び利用料に関する内規（2026年11月1日適用）、SHARE登録情報で照合しています。
| 区分 | 装置 | SHARE設備番号（利用枠） | 謝辞に記載する番号・名称の例 |
|---|---|---|---|
| 電子顕微鏡 | 超高分解能透過電子顕微鏡（ダブルコレクタ）JEM-ARM200F | 550_1（ARIM）／550_2（分析コア） | 550・超高分解能透過電子顕微鏡（ダブルコレクタ）JEM-ARM200F |
| 電子顕微鏡 | 超高分解能透過電子顕微鏡（STEMコレクタ）JEM-ARM200F | 1046_1（ARIM）／1046_2（分析コア） | 1046・超高分解能透過電子顕微鏡（STEMコレクタ）JEM-ARM200F |
| 電子顕微鏡 | 分析透過電子顕微鏡 JEM-2100Plus | 1045_1（ARIM）／1045_2（分析コア） | 1045・分析透過電子顕微鏡 JEM-2100Plus |
| 電子顕微鏡 | 分析電子顕微鏡 EM-002B | 548_1（ARIM）／548_2（分析コア） | 548・分析電子顕微鏡 EM-002B |
| 電子顕微鏡 | 透過電子顕微鏡 JEM-2000EXII | 549_1（ARIM）／549_2（分析コア） | 549・透過電子顕微鏡 JEM-2000EXII |
| 集束イオンビーム（FIB） | 集束イオンビーム加工装置 Dual-Beam FIB System（Quanta 3D） 技術代行の料金区分は別番号（1209：集束イオンビーム加工装置(技術代行適応料金)）で登録されています。謝辞には実際に利用した装置（751／752）を記載してください。 | 751_1（ARIM）／751_2（分析コア） | 751・集束イオンビーム加工装置 Dual-Beam FIB System（Quanta 3D） |
| 集束イオンビーム（FIB） | 集束イオンビーム加工装置 Dual-Beam FIB System（Versa 3D） | 752_1（ARIM）／752_2（分析コア） | 752・集束イオンビーム加工装置 Dual-Beam FIB System（Versa 3D） |
| 集束イオンビーム（FIB） | プラズマ集束イオンビーム加工装置 TESCAN AMBER X | 1047_1（ARIM）／1047_2（分析コア） | 1047・プラズマ集束イオンビーム加工装置 TESCAN AMBER X |
| 試料作製装置 | 薄膜断面試料作製装置（イオンスライサ）EM-09100IS | 552_1（ARIM）／552_2（分析コア） | 552・薄膜断面試料作製装置（イオンスライサ）EM-09100IS |
| 試料作製装置 | イオンミリング加工装置（PIPSⅡ） | 1212_1（ARIM）／1212_2（分析コア） | 1212・イオンミリング加工装置（PIPSⅡ） |
| その他の分析装置 | 高出力全自動水平型多目的X線回折装置（XRD）SmartLab 9SW | 753_1（ARIM）／753_2（分析コア） | 753・高出力全自動水平型多目的X線回折装置（XRD）SmartLab 9SW |
| その他の分析装置 | 熱分析装置（DSC-DTA）Thermo plus EVO Ⅱ | 754_1（ARIM）／754_2（分析コア） | 754・熱分析装置（DSC-DTA）Thermo plus EVO Ⅱ |
| 試料作製装置 | 低エネルギーミリング装置 Gentle Mill 3 | CFC未登録 | 当室の謝辞のみ |
| 試料作製装置 | プラズマクリーナー Solarus Model 950 | CFC未登録 | 当室の謝辞のみ |
| 試料作製装置 | ダイヤモンドワイヤーソー CS-203 | CFC未登録 | 当室の謝辞のみ |
| 試料作製装置 | ディンプルグラインダー Model 656-3 | CFC未登録 | 当室の謝辞のみ |
| 試料作製装置 | オスミウムコーター NEOC-PRO | CFC未登録 | 当室の謝辞のみ |
| 電子顕微鏡 | 試料加熱ホルダ EM-SHH(4)／EM-SHTH | CFC未登録 | 当室の謝辞のみ |
設備番号は、SHAREの設備名称の頭に付いている番号です（CFC案内）。当室管理装置は利用区分ごとに枝番（_1：ARIM、_2：分析コア）がありますが、謝辞には枝番を除いた番号（例：550）を記載してください。
謝辞ジェネレーター
この謝辞ジェネレーターは、謝辞の記載を補助するための参考ツールです。生成された文案が、すべての制度・利用条件・投稿先の要件を満たすことを保証するものではありません。
制度、指定文言、課題番号、設備番号等は変更される場合があります。成果発表前に、ご自身の利用内容・利用時期と、AEM、ARIM／CINTS、CFC等の最新の公式案内を必ずご確認ください。
不明な点については、当室または各制度の担当窓口にお問い合わせください。
入力内容はお使いのブラウザ内だけで処理され、サーバーや外部サービスへ送信・保存されることはありません。課題番号は実際に採択された番号を入力してください（番号の形式は確認しますが、真正性は確認できません）。
謝辞ジェネレーターを利用するにはJavaScriptを有効にしてください。JavaScriptが利用できない場合は、上記の「利用形態別の謝辞一覧」と各記載例・装置一覧を組み合わせて謝辞を作成してください。
成果報告について
当室の設備・支援を用いた成果を初めて発表した際は、その情報を当室へ提供してください（同意事項第9項）。以後も、利用から概ね5年以内の成果については報告にご協力ください（5年を超えた後は任意）。
- 報告事項：発表先（学会名・論文誌名など）、発表タイトル、発表者・著者、発表年月日、DOI等
- 報告先：報告フォームは現在準備中です。整備までの間はお問い合わせ窓口からご連絡ください。
- 研究所の研究報告書や広報資料（金研リサーチハイライト等）への原稿作成をお願いする場合があります。
ARIMの利用報告書・成果情報は別の手続きです。ARIM公開課題では、ARIM事業の利用報告書（原則web入力、最大2年の公開猶予あり）の提出と、論文DOI・学会発表等の成果情報の登録が必要です。詳しくは金研ARIM事業班「利用報告書について」とCINTS規定をご覧ください。当室への成果報告とARIMの報告は、必要に応じて両方行ってください。
根拠資料・関連規程・公式リンク
| 資料 | 性格 | 版・改正日等 | 確認日 |
|---|---|---|---|
| 分析電顕室 利用申請時の同意事項（第9項・第10項、CINTS非公開課題の例外） | 同意事項 | 2025/04/30現在 | 2026年11月13日 |
| 分析電顕室利用ガイドライン 第8項「成果報告と謝辞」 | 当室の利用規則・案内 | 2025/04/05暫定版 | 2026年11月13日 |
| 分析電顕室 ご利用に関するよくあるご質問（FAQ） Q8 | 当室の利用規則・案内 | 2025/04/05暫定版 | 2026年11月13日 |
| CFC SHAREへの登録・利用申請のお願い（2026年10月7日） | 当室の利用規則・案内 | 2026-10-07 | 2026年11月13日 |
| 東北大学研究推進・支援機構コアファシリティ統括センター設備等利用内規 第12条（謝辞の記載） | 規程 | 令和8年（2026年）9月24日改正・同日施行（2023年8月1日改正版では第11条） | 2026年11月13日 |
| コアファシリティ統括センターの利用設備等及び利用料に関する内規（2026年11月1日適用） | 規程 | 2026-11-01適用 | 2026年11月13日 |
| 東北大学 共用設備・機器ご利用案内（謝辞記載のお願い） | 記載要請・案内 | — | 2026年11月13日 |
| 東北大学 研究基盤利用ポータル（金属材料研究所） | 参考 | — | 2026年11月13日 |
| 東北大学若手研究者に係る共用設備利用支援制度（学内向け案内） | 記載要請・案内 | 2026-10-01制度変更（対象はCFC SHARE登録設備に限定） | 2026年11月13日 |
| JST 先端研究基盤共用促進事業（コアファシリティ構築支援プログラム） | 記載要請・案内 | 事業期間は令和7年度（2025年度）まで | 2026年11月13日 |
| CINTS 利用案内（謝辞記載のお願い） | 記載要請・案内 | — | 2026年11月13日 |
| CINTS 規定（利用細則・ARIM設備利用約款・データ登録約款） | 規程 | 利用細則 2026-06-30版 | 2026年11月13日 |
| NIMS Advanced Characterization Nanotechnology Platform（微細構造解析分野の英語正式名称） | 参考 | — | 2026年11月13日 |
| 金研ARIM事業班 利用報告書について | 記載要請・案内 | — | 2026年11月13日 |
問い合わせ先
謝辞の要否や記載方法が不明な場合は、分析電顕室 お問い合わせまでご連絡ください。ARIM課題・利用報告書についてはCINTS・金研ARIM事業班、CFC登録設備・若手支援制度についてはCFCの案内もあわせてご確認ください。
最終更新日・更新履歴
最終確認日：2026年11月13日（データ版：2026-11-13.1）
- 2026年11月13日：初版作成（調査基準日 2026-11-13）。CFC設備等利用内規 2026-09-24 改正（謝辞は第12条）、料金内規 2026-11-01 適用版、研究基盤利用ポータル、CINTS利用案内を確認。
- 2026年11月13日：当室管理者の確認により、所内セルフ利用でも謝辞が必須である理由を「方針の変更」ではなく「学内利用がSHARE経由の装置利用申請となった結果として必須になる」という整理に修正。設備番号は枝番（_1/_2）を除いて記載する運用を確定（要確認の表示を解除）。
※この投稿はAIエージェントによって作成されています。