JEM-ARM200F(STEMコレクタ):復旧
利用者各位 JEM-ARM200F(STEMコレクタ機)のメンテナンス(電子銃交換)が終了し使用可能となりましたのでお知らせいたします。
利用者各位 JEM-ARM200F(STEMコレクタ機)のメンテナンス(電子銃交換)が終了し使用可能となりましたのでお知らせいたします。
利用者各位 いつも当室をご利用頂きありがとうございます。 現在当室管理の分析透過電子顕微鏡「Em-002B」が故障のため使用不能となっております。復旧は早くとも2020年1月末となる見込みです。ご使用予定の皆様には大変ご … 002B使用不可
利用者各位 いつも当室をご利用頂きありがとうございます。 現在当室管理の分析電子顕微鏡EM-002Bで以下の不具合が発生しております。応急対応はすんでおり観察は可能ですが、復旧には大規模なメンテナンスが必要となる見込みで … EM-002B不具合
利用者各位 いつも当室をご利用頂きありがとうございます。 現在当室管理の原子分解能電子顕微鏡JEM-ARM200Fで以下の不具合が発生しております。応急対応はすんでおり観察は可能ですが、実験への影響が出る可能性が考えられ … ARM200F不具合(一部復旧)
利用者各位 いつも当室をご利用頂きありがとうございます。 先日アナウンスした、イオンミリング装置Model1010 (fischione)の不具合は解消いたしました。 金研・分析電顕室
利用者各位 いつも当室をご利用頂きありがとうございます。 現在・イオンミリング装置Model1010 (fischione) が使用不能となっております。従って、機器利用並びに本装置を用いた試料作製を実施できない状況です … 装置不具合 イオンミリング
利用者各位 いつも当室をご利用頂きありがとうございます。 下記の通り、JEM-2000EXIIのメンテナンスを行います。メンテナンス期間中は当該装置をご使用になれません。年末のお忙しい時期にご迷惑をおかけ致しますが、ご理 … 2000EX-II メンテナンス
利用者の皆様 原子分解能走査透過電子顕微鏡 JEM-ARM200Fで生じていた試料ステージのトラブル(Yチルト不良)は解消いたしました。
利用者の皆様 原子分解能走査透過電子顕微鏡 JEM-ARM200Fは現在ゴニオステージの不具合のため、2軸傾斜ホルダが使用できません。 試料傾斜を伴わない中低倍の形態観察や元素マッピング等は実施可能です。 ご利用予定の皆 … ARM200F 不具合
利用者の皆様 分析電子顕微鏡 EM-002Bにおいて発生していた試料ステージ不調は3/17、18の調整修理によって、概ね解消致しました。
利用者の皆様 分析電子顕微鏡 EM-002Bは試料ステージ不調のため試料傾斜を伴う観察が困難になっております。 その他の不具合対策を含めて3/17にメーカーのエンジニアによる調整修理を予定しております。 現在でもマシンタ … EM-002B不具合
利用者の皆様 原子分解能走査透過電子顕微鏡 JEM-ARM200Fは復旧いたしました。 使用をご希望の方は当室までお尋ねください。 ただし、3月のマシンタイムは大変混みあっております。時間に余裕のある実験につきましてはで … JEM-ARM200F不具合(復旧)
利用者の皆様 原子分解能走査透過電子顕微鏡 JEM-ARM200Fは現在不具合のため使用できません。 復旧の見通しが立つまで、マシンタイムの予約は停止させていただきます。お忙しいところ大変ご迷惑をおかけいたしますがご協力 … JEM-ARM200F不具合
2000EXIIの鏡筒に真空計をつけました(試料ホルダーの出し入れ時に真空度のモニタができます)。
002Bのメンテナンスを行い、以下の点改善されております。 1.対物絞り交換を行いました(最小絞り径が一回り小さくなっています)。 2.対物絞りの動きがスムーズになりました。 3.Diff focusの動作が改善されまし … メンテナンス情報(002B)