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概要
日本電子製 JEM-2000EXII は、200 kV LaB6（六ホウ化ランタン）フィラメント電子銃を搭載した汎用透過型電子顕微鏡（TEM）です。
大傾斜角ゴニオメーターステージを標準装備しており、試料傾斜角 X軸 ±60°・Y軸 ±38° という広い範囲での高傾斜 TEM 観察が可能です。高コントラスト観察モードを備えるほか、試料加熱ホルダー（最高加熱温度 約 800 ℃）・試料冷却ホルダーなどの特殊環境ホルダーに対応し、温度変化に伴うその場観察実験に適しています。
画像記録には GATAN ORIUS 200D デジタル CCD カメラシステムを使用しています（フィルム撮影は使用していません）。
主な特長
- 大傾斜角ゴニオメーターステージ： X軸 ±60°、Y軸 ±38° の広い傾斜角範囲を持ち、結晶方位の精密な設定や傾斜シリーズ観察に対応。
- 高コントラスト観察： 高コントラスト対物絞り等を活用した高コントラスト観察モードを備え、生体系・高分子・軽元素試料など低コントラスト試料の観察に有効。
- 温度制御ホルダーによるその場観察（2軸傾斜対応）： 試料加熱ホルダー（2軸傾斜・最高加熱温度 約 800 ℃）および試料冷却ホルダー（2軸傾斜・最低冷却温度 約 −150〜−160 ℃）を使用可能。相変態・析出・粒成長・低温相転移などの動的過程をリアルタイムで TEM 観察。
- GATAN ORIUS 200D デジタル CCD カメラ： 高感度・広視野の GATAN ORIUS 200D CCD カメラシステムによるデジタル画像取得。フィルム撮影に代わるデジタル記録システムを採用。
主な仕様
【仕様に関するご注意】
実際の装置構成や仕様はマニュアルの標準仕様と一部異なる場合があります。現在の詳細な仕様や利用条件については、装置管理者までご確認ください。
実際の装置構成や仕様はマニュアルの標準仕様と一部異なる場合があります。現在の詳細な仕様や利用条件については、装置管理者までご確認ください。
| メーカー | 日本電子株式会社（JEOL Ltd.） |
|---|---|
| 型式 | JEM-2000EXII（透過電子顕微鏡） |
| 電子銃 | 六ホウ化ランタン（LaB6）フィラメント |
| 加速電圧 | 200 kV |
| 分解能 | 格子分解能：0.23 nm (2.3 Å) |
| 最大試料傾斜角 | X軸 ±60° ／ Y軸 ±38° |
| 画像記録システム | GATAN ORIUS 200D デジタル CCD カメラ（フィルム撮影不使用） |
| 対応ホルダー | 試料加熱ホルダー（2軸傾斜・最高加熱温度 約 800 ℃） 試料冷却ホルダー（2軸傾斜・最低冷却温度 約 −150〜−160 ℃） |
| 設置年度 | 平成元年（1989年） |
| 設置場所 | 3-103 |
マニュアル・利用案内
【ARIMデータ登録（公開課題・データ提供あり）】
📄 装置POP・登録必須ファイル案内（PDF）
※文部科学省 ARIM事業の「公開課題（データ提供あり）」でご利用の場合のみ対象です。金研分析枠等でのご利用時は対象外です。全体の案内や他装置のPOPは ARIMデータ登録のご案内 をご確認ください。
【マニュアル・利用案内】
マニュアル類については、今後順次公開予定です。利用に関するご質問・お問い合わせは装置管理者までお気軽にご連絡ください。