JEM-ARM200F不具合

利用者の皆様

原子分解能走査透過電子顕微鏡 JEM-ARM200Fは現在不具合のため使用できません。

復旧の見通しが立つまで、マシンタイムの予約は停止させていただきます。お忙しいところ大変ご迷惑をおかけいたしますがご協力をお願いいたします。

(参考)不具合の内容 2017/02/16現在

  • 重大な不具合(観察不能)
    • ブライトネスを変えると、像の大きさが変わり回転する。
    • フォーカスが合わせられない。
  •  中程度の不具合(一応観察は可能・実験条件によっては使用不可)
    • STEM像にノイズが乗る(応急対策済み)
    • EELSでゼロロスが大きく動く(10ev程度)ことがある。(時々)
  • 軽微な不具合
    • HAADF検出器の挿入に時間がかかる。
    • STEMモードでフォーカスが経時変化することがある。