お知らせ

分析電顕室からユーザーの皆様へのお知らせです。

【設備・ツール紹介】TEMホルダーへの試料セットを安全・確実に――失敗時のリスクを防ぐ「手動マニピュレーター」のご案内

TEM観察において、FIB(集束イオンビーム)で作製した薄片試料のホルダーセットは、最も緊張を強いられる作業の一つです。 万が一、ホルダー取り付け時に試料を破損・紛失してしまった場合、その損失は試料そのものにとどまりませ 【設備・ツール紹介】TEMホルダーへの試料セットを安全・確実に――失敗時のリスクを防ぐ「手動マニピュレーター」のご案内

TEM観察・分析、試料作製、利用料金に関するよくあるご質問(FAQ)

この記事について 本記事は、現場で感じた雑感や日頃寄せられるお問い合わせへの回答をAIがまとめた読み物です。参考にしていただければと思いますが、内容は制度として正式に確定しているものとは限りません。不明な点がございました TEM観察・分析、試料作製、利用料金に関するよくあるご質問(FAQ)

TEM分析にはいくらかかる?―TEM試料作製・観察・分析にかかる費用と利用方法

この記事について 本記事は、現場で感じた雑感や日頃寄せられるお問い合わせへの回答をAIがまとめた読み物です。参考にしていただければと思いますが、内容は制度として正式に確定しているものとは限りません。不明な点がございました TEM分析にはいくらかかる?―TEM試料作製・観察・分析にかかる費用と利用方法

【装置トラブル】落雷に伴う電源変動による装置停止および夏季休業明けマシンタイムへの影響について

2026年8月8日(土)午前8時頃の点検にて、1-105室設置のTEM(透過電子顕微鏡)2台をはじめとする一部装置の停止およびエラー発生が確認されました。 ■ 状況・影響範囲 – 発生日時: 2026年8月8 【装置トラブル】落雷に伴う電源変動による装置停止および夏季休業明けマシンタイムへの影響について

強磁性体試料のTEM観察について — 注意点と当室の対応方針

強磁性材料のTEM観察に関するご相談を多くいただいています。磁性体試料の観察については、装置保護の観点から原則お断りしている機関も少なくありません。装置を保護する観点からは合理的な判断であり、妥当性のある対応です。 一方 強磁性体試料のTEM観察について — 注意点と当室の対応方針

AIエージェントを活用したホームページ整備・更新のお知らせ

■ 概要 分析電顕室では、AIエージェントを活用したホームページの更新作業を進めています。スタッフ不足により更新が滞りがちでしたが、AI活用により効率的に更新できるようになったため、装置紹介ページの充実や「装置一覧」ペー AIエージェントを活用したホームページ整備・更新のお知らせ

【装置トラブル・復旧】JEM-ARM200F(W) チラー冷却不良に伴う利用停止について

■ 概要 片平地区の計画停電明け(2026年8月2日)より、JEM-ARM200F(W)にてチラーの冷却不良(冷却水温の上昇)に伴う起動エラーが発生し、使用停止となっておりましたが、復旧しました。現在動作確認中です。 ■ 【装置トラブル・復旧】JEM-ARM200F(W) チラー冷却不良に伴う利用停止について

「若手研究者に係る共用設備利用支援制度実施要領」の改正について

「若手研究者に係る共用設備利用支援制度実施要領」の改正について 利用者各位 いつも金研分析電顕室をご利用いただき、ありがとうございます。 2026年10月1日より、「若手研究者を対象とした共用設備利用支援制度」が変更され 「若手研究者に係る共用設備利用支援制度実施要領」の改正について

[装置トラブル]JEM-ARM200F(Wコレクタ)不調による使用不可について(再発)(復旧しました)

本トラブルは復旧済みです。(2025/03/13現在) 金研分析電顕室 利用者各位 2025/02/10現在当室管理のTEM(JEM-ARM200F(Wコレクタ))が不調のため使用不可となっております。 左の操作パネルが [装置トラブル]JEM-ARM200F(Wコレクタ)不調による使用不可について(再発)(復旧しました)