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概要
日本電子製の試料加熱ホルダには、一軸傾斜仕様の EM-SHH(4) と2軸傾斜仕様の EM-SHTH の2種類があり、共通のヒーターコントロールユニット EM-SHU2 と組み合わせて、透過電子顕微鏡 JEM-2000EXII（サイドエントリ・ゴニオメータ）で使用します。試料を加熱しながら傾斜させることができ、相変態・析出・粒成長など温度変化に伴う動的過程のその場（in situ）TEM観察に用いられます。
当室では通常、2軸傾斜仕様のEM-SHTHを使用します（最高加熱温度の目安は約800℃）。一軸傾斜のEM-SHH(4)を使用する場合は、下記マニュアルの記載通りに操作してください（マニュアル記載の最高加熱温度は室温～1,000℃）。
主な特長
- 加熱と傾斜の両立： サイドエントリ・ゴニオメータと組み合わせることで、試料を加熱しながら傾斜させたTEM観察が可能。
- 2種類のホルダに対応する共通コントローラ： ヒーターコントロールユニット EM-SHU2 は、EM-SHH(4)・EM-SHTHいずれの熱電対にも対応した温度換算曲線を備え、共通の1台で両ホルダの加熱電流制御・温度測定が可能。
- 通常運用は2軸傾斜のEM-SHTH： 傾斜自由度が高く、柔軟な結晶方位設定が可能。最高加熱温度は約800℃が目安。
- 試料交換工具による着脱： 専用の試料交換台・交換工具（A/B）を用いて、グリッド・メッシュ状の試料をホルダ先端の試料保持具に着脱。
この装置固有の注意（ホルダの種類・温度換算について）
【温度換算について】 ヒーターコントロールユニット EM-SHU2 は両ホルダに対応しており、付属の温度換算表には EM-SHH用（Pt-Pt・Rh(13%)熱電対、室温～約1,050℃相当）と EM-SHTH用（W・Re(5%)-W・Re(26%)熱電対、室温～約800℃相当）の2種類の換算曲線が掲載されています。通常使用する2軸傾斜のEM-SHTHでは、EM-SHTH用の換算曲線を使用してください（最高加熱温度の目安は約800℃。JEM-2000EXII紹介ページの記載とも整合）。
どちらのホルダを使用しているかの確認方法や、より詳細な取り扱いについては、スタッフ（装置管理者）までお問い合わせください。
主な仕様
実際の装置構成や仕様はマニュアルの標準仕様と一部異なる場合があります（上記【この装置固有の注意】も参照）。現在の詳細な仕様や利用条件については、スタッフ（装置管理者）までご確認ください。
| メーカー | 日本電子株式会社（JEOL Ltd.） |
|---|---|
| 型式 | 試料加熱ホルダ EM-SHH(4)（一軸傾斜）／EM-SHTH（2軸傾斜、通常使用） ＋ ヒーターコントロールユニット EM-SHU2（両ホルダ共通） |
| 対応装置 | JEM-2000EXII（サイドエントリ・ゴニオメータ） |
| 加熱温度 | EM-SHTH（2軸傾斜・通常使用）：室温～約800℃／EM-SHH(4)（一軸傾斜）：室温～1,000℃（いずれもマニュアル記載の目安値） |
| 最大加熱電流 | 1.2 A（EM-SHH(4)マニュアル記載値） |
| 試料傾斜 | EM-SHTH：2軸傾斜（通常使用）／EM-SHH(4)：一軸傾斜 ±45° |
| 試料傾斜速度 | 9 ～ 90°/min（EM-SHH(4)マニュアル記載値） |
| 試料装填数 | 1 個（グリッド・メッシュ、加熱ホルダ専用） |
| 視野の大きさ | 1.4 ～ 2.0 mmφ |
| EM-SHU2 入力 | DC 24V, 4A（スイッチング・レギュレータ式は使用不可） |
| EM-SHU2 出力 | 0 ～ 20 V, 0 ～ 2 A |
| 温度測定方式 | 熱電対による熱起電力直読方式（EM-SHH用／EM-SHTH用、2種類の温度換算曲線を使い分け） |
| 整備財源／移管元 | 旧百万ボルト電子顕微鏡室（現TCEM）より移管 |
| 設置場所 | 1-105 |
マニュアル・利用案内
【マニュアル（学内限定）】
📄 試料加熱ホルダ EM-SHH4／ヒーターコントロールユニット EM-SHU2 取扱説明書（PDF・学内限定）
※このマニュアルは一軸傾斜仕様のEM-SHH4とヒーターコントロールユニットEM-SHU2の内容です。EM-SHU2は2軸傾斜仕様のEM-SHTHとも共通で使用されており、巻末の温度換算表にはEM-SHTH用の曲線も掲載されています。通常使用する2軸傾斜ホルダの詳細な取り扱いについては、スタッフ（装置管理者）までご確認ください。