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概要
日本電子製 JEM-2100Plus は、優れた光学性能と高度な自動化制御システムを備えた汎用・高分解能 200 kV 透過型電子顕微鏡（TEM）です。
クールビーム方式電子銃と最新の操作ソフトウェア「TEMCenter」を搭載し、高分解能 TEM 像観察（粒子像分解能 0.14 nm, 格子像分解能 0.23 nm）から各種電子回折（SAD / NBD / CBED）、STEM 走査像観察（BF/DF）、および EDS 元素分析まで広範囲な材料解析を効率的かつ高精度に実行します。
主な特長
- 新世代操作ソフトウェア「TEMCenter」： 最新の GUI 設計により、状態表示・操作画面・画像確認をコンパクトに一元化。初心者から熟練者まで直感的かつスムーズな自動撮影操作が可能。
- 高精度ピエゾ駆動ゴニオメーター： 全軸コンピュータ制御ピエゾ駆動ステージを採用。サブナノメートルオーダーでの滑らかな試料移動と高い防振・アフタードリフト性能を実現。
- 多様な電子回折・観察モード： 制限視野回折（SAD）、ナノビーム電子回折（NBD）、収束電子線回折（CBED）に対応し、微小結晶構造や歪み解析を高度にサポート。
- デジタルモンタージュ＆オートフォーカス機能： 高速自動フォーカスおよび高画素（5,000 × 5,000 相当）広視野パノラマ画像の自動取得が可能。
主な仕様
【仕様に関するご注意】
実際の装置構成や仕様はマニュアルの標準仕様と一部異なる場合があります。現在の詳細な仕様や利用条件については、装置管理者までご確認ください。
実際の装置構成や仕様はマニュアルの標準仕様と一部異なる場合があります。現在の詳細な仕様や利用条件については、装置管理者までご確認ください。
| メーカー | 日本電子株式会社（JEOL Ltd.） |
|---|---|
| 型式 | JEM-2100Plus（多目的透過電子顕微鏡） |
| 電子銃 | クールビーム方式電子銃（LaB6 / 電界放出型対応） |
| 加速電圧 | 200 kV（可変：80, 100, 120, 160, 200 kV、最小ステップ 50 V） |
| 分解能 (200 kV) | 粒子像分解能：0.14 nm (1.4 Å) 格子像分解能：0.23 nm (2.3 Å) |
| 撮影倍率 (MAG モード) | ×2,000 〜 ×1,500,000（LOWMAG モード：×30 〜 ×6,000） |
| 最大試料傾斜角 | X軸 ±35° ／ Y軸 ±30° |
| 観察・分析機能 | 明視野／暗視野 TEM 観察、STEM 像観察（BF/DF）、電子回折（SAD / NBD / CBED）、EDS 元素分析 |
| 設置場所 | 3-103 |