技能講習資料:ARM200F
JEM-ARM200F:初級ライセンス 以下の内容は書きかけのものを含みます。
JEM-ARM200F:初級ライセンス 以下の内容は書きかけのものを含みます。
利用者各位 当室管理のTEMに関する定期講習会について、装置トラブルや人員不足の為中断しておりましたが、一部メンテナンスが完了しましたので、下記の通り再開することと致しました。受講を希望される方は下記フォームよりお申し込 … TEMトレーニング(定期講習会)再開について
金研分析電顕室 利用者各位 2024/06/24現在当室管理のTEM(JEM-ARM200F(STEMコレクタ))が不調のため使用不可となっております。復旧時期は未定です。また、この不調に伴いTEM講習会(JEM-ARM … [装置トラブル]JEM-ARM200F(STEMコレクタ)不調による使用不可及び定期講習会延期について
2024/4/24に実施したTEM講習会初回ガイダンスの録画動画及び配布物です。 TEM講習会:初回ガイダンス:20240424-1 学内ユーザー限定公開です。(東北大メールでログインしてください。) TEM講習会:初回 … TEM講習会初回ガイダンス
利用者各位 いつも金属研究分析電顕室をご利用いただき、ありがとうございます。 先にお知らせしたとおり、技術職員の異動に伴い、本年度からは教員1名と技術職員0名(及びARIM事業班)の体制になります。この体制では、現在のマ … TEM講習会について(学内利用者向け)
現在当室の管理装置の動画マニュアル化を進めておりますが、装置管理やユーザー対応の合間に時間を見つけて作業を行っているため、整備にはかなり時間がかかる見込みです。マニュアル整備が完了するまでの間、ロンチグラムを用いた収差補 … 参考 ロンチグラムを用いた収差補正
予約管理システムのユーザー登録(サインアップ)方法の解説です。 本動画の対象者は、学内の方のみとなります。学外の方はCINTS経由でのユーザー登録が必要です。
JEM-ARM200F STEMコレクタ機ビーム発生方法です。 この操作を行う前に、電子顕微鏡の昇圧とホルダ挿入を済ませておきます。 マニュアルの内容 JEMーARM200Fマニュアル動画リスト
TEM試料ハンドル用に手動マニピュレーターを導入しました FIB試料のTEMホルダ搭載など、精密作業に使用できます。 製品サイト (当室サイトとは無関係です)
JEM-ARM200F STEMコレクタ機 ACD(試料汚染防止装置)寒剤補給 JEM-ARM200F STEMコレクタ機 ACDヒート JEMーARM200Fマニュアル動画リスト
JEM-ARM200F STEMコレクタ機用のイオンクリーナーの使用方法です。 電子顕微鏡に試料を挿入する際は必ずクリーニングを実施してください。 JEMーARM200Fマニュアル動画リスト
JEM-ARM200F STEMコレクタ機用の試料ホルダ予備排気装置の使用方法です。 Wコレクタ機用の予備排気装置も同型機を使用していますので、本動画を参照していただけます。 JEMーARM200Fマニュアル動画リスト
JEM-ARM200F STEMコレクタ機の試料ホルダの抜き挿し動画です。 バルク強磁性試料を観察する場合は、low-Mag(対物レンズOFF)でホルダの抜き挿しを行ってください。(TEMに導入する前に必ずスタッフに相談 … マニュアル動画:JEM-ARM200F (S):ホルダ挿抜
利用者各位 いつも分析電顕室をご利用頂きありがとうございます。先日案内した「装置利用に関する考え方について」において「上級利用者「枠」(仮名)」についてふれさせて頂きました。この「上級利用者「枠」」が、具体的にどの装置の … 「上級利用者枠(仮名)」に関する考え方について(学内利用者向け)
本ページは検討中の内容が含まれます(2022/03/30)。 利用者各位 いつも分析電顕室管理の装置をご使用いただきありがとうございます。現在当室では装置利用の枠組みを改訂・明確化する為に検討を進めており、2022年度か … 装置利用(料金・成果公開・技術支援)に関する考え方について(学内利用者向け)(2022年暫定版)
利用者各位 当室管理の装置使用に際しては、利用者・課題・装置使用情報及び取得データについては原則として公開される事を前提としております。具体的な取り扱いは以下の添付ファイルの通りとします。 当室管理装置の使用申請の際には … 装置利用にかかる利用者情報及び取得データ等の取り扱いについて(当室利用ポリシー)
利用者各位 当室では、新型コロナウイルス感染拡大防止のため、BCPレベルに応じて同時入室者数を制限しております。 BCP2体制下においては、同一グループ内での自主トレーニングや研究指導の場合は、他のグループと同時使用を避 … 梅雨(多湿)時期の入室制限について
利用者各位 いつも金研分析電顕室をご利用頂きありがとうございます。 当室では事務手続きの簡略化並びに昨今の新型コロナウイルス感染拡大防止の一環として、2021年度より利用手続きの完全オンライン化を実施いたします。 既に手 … 押印廃止対応に伴う、利用手続きの変更について
当室では、「若手研究者を対象とした共用設備利用支援制度(学内専用)」をご利用になれます。 支援内容 装置使用料・技術支援料の半額を免除 支援対象者 以下のいずれかに該当する本学の教員その他研究に従事する方。 (使用財源の … 若手研究者を対象とした共用設備利用支援制度(学内専用)
本ページでは当室のCOVID-19対策をまとめています。(現在作成中) 実際の対応は内容は随時変更される場合があるため、詳細については直接当室までお問い合わせください。 BCPレベル毎の対応 当室のCOVID-19対応は … COVID-19対策
金研分析電顕室は2024年度より技術職員が不在となりました。依頼実験についてはCINTS(ARIM事業班)スタッフと連携して継続しておりますが、人手不足の為受付を制限しております。当室に試料作製・観察代行・立会実験を依頼 … 依頼実験(実験代行)のご案内
分析電顕室では、オンライン会議システムを活用したリモート立会観察を実施しております。来室されないでも、観察状況をリアルタイムでオペレーターと共有し、実験を実施することが可能です。インターネット環境があればどこからでも立会 … リモート立会観察のご案内(S/TEM・FIB・DSC・XRD等)
利用者の皆様 今般の新型コロナウイルスに関連した感染症対策といたしまして、当室では以下の対応をとらせて頂きます。ご不便をおかけして大変申し訳ありませんが、ご理解のほどお願いいたします。 感染が疑われる方の入室禁止 発熱( … 新型コロナウイルス対策について
利用者各位 いつも当室をご利用頂きありがとうございます。現在、当室管理の電子顕微鏡(002B 及び JEM-ARM200F)におきまして、装置不具合及び設置環境による影響のため、装置が使用不可あるいは、十分な性能が出ない … 電子顕微鏡の不具合等について
利用者各位 いつも当室をご利用頂きありがとうございます。本日より下記の通り電子顕微鏡の補修作業を行います。期間中は当該顕微鏡は当該顕微鏡の使用はできません。また、作業の都合上ドアの開閉や騒音の発生等で他の装置を使用される … 分析電子顕微鏡(EM-002B)補修作業のお知らせ
利用者各位 平成30年度の指定国立大学補助金(材料拠点) でダイヤモンドワイヤ切断機を導入いたしました。湿式切断・乾式切断共に可能ですので、脆性材料や複合材料などの難加工試料の作製にご活用下さい。 装置仕様は下記メーカー … ダイヤモンドワイヤ切断機を導入しました。
管理者・熟練ユーザー向けの確認用クイックマニュアルです。内容を理解できない場合は本マニュアルの内容を実施しないこと。2019/02/22 最初に EELSを停止する カメラを退避させる(ORIUS、US) EDS検出器を … ARM200F 終了手順
【主な対象者】 装置利用には利用手続きが必要になります。 当該装置の基本的な操作を単独で行える方が対象となります。 スタッフによる実験的・学術的判断が必要な場合は技術支援の対象となります。 予約時間に応じた装置使用料が発 … 装置利用に関する注意事項
【主な対象者】 装置利用には利用手続きが必要になります。 当室スタッフによる技術支援を受けた場合は装置使用料に加えて、支援に要した時間に応じて技術支援料を頂戴いたします。なお、装置上のトラブル対応や、使用方法に関する問い … 技術支援に関する注意事項
利用者各位 いつも当室をご利用頂きありがとうございます。 現在当室管理の分析電子顕微鏡EM-002Bで以下の不具合が発生しております。応急対応はすんでおり観察は可能ですが、復旧には大規模なメンテナンスが必要となる見込みで … EM-002B不具合