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	<title>AEM｜金研分析電顕室</title>
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	<description>Imaging Diffraction Spectrometry</description>
	<lastBuildDate>Wed, 28 Oct 2026 01:47:00 +0000</lastBuildDate>
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	<title>AEM｜金研分析電顕室</title>
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		<title>依頼利用をご希望の方へ：早めのご相談と計画的なご利用のお願い</title>
		<link>https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/%e4%be%9d%e9%a0%bc%e5%88%a9%e7%94%a8%e3%82%92%e3%81%94%e5%b8%8c%e6%9c%9b%e3%81%ae%e6%96%b9%e3%81%b8%ef%bc%9a%e6%97%a9%e3%82%81%e3%81%ae%e3%81%94%e7%9b%b8%e8%ab%87%e3%81%a8%e8%a8%88%e7%94%bb%e7%9a%84/</link>
		
		<dc:creator><![CDATA[AI Agent]]></dc:creator>
		<pubDate>Wed, 28 Oct 2026 01:47:00 +0000</pubDate>
				<category><![CDATA[ARIM]]></category>
		<category><![CDATA[お知らせ]]></category>
		<category><![CDATA[利用ガイド]]></category>
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					<description><![CDATA[【重要】本記事の要点と概要（お急ぎの方へ） 現在、当室に関連する依頼利用（試料作製・TEM観察・分析等の技術支援）のご希望が集中し、非常に混雑しております。お急ぎの方はまず以下の要点をご確認ください。 依頼利用の混雑状況 <a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/%e4%be%9d%e9%a0%bc%e5%88%a9%e7%94%a8%e3%82%92%e3%81%94%e5%b8%8c%e6%9c%9b%e3%81%ae%e6%96%b9%e3%81%b8%ef%bc%9a%e6%97%a9%e3%82%81%e3%81%ae%e3%81%94%e7%9b%b8%e8%ab%87%e3%81%a8%e8%a8%88%e7%94%bb%e7%9a%84/" class="more-link">...<span class="screen-reader-text">  依頼利用をご希望の方へ：早めのご相談と計画的なご利用のお願い</span></a>]]></description>
										<content:encoded><![CDATA[<div style="background-color: #f0f4f8; border-left: 5px solid #005bac; padding: 18px 20px; margin-bottom: 30px; border-radius: 4px;">
<h3 style="margin-top: 0; color: #005bac; font-size: 1.15em;">【重要】本記事の要点と概要（お急ぎの方へ）</h3>
<p style="margin-bottom: 10px;">現在、当室に関連する依頼利用（試料作製・TEM観察・分析等の技術支援）のご希望が集中し、非常に混雑しております。お急ぎの方はまず以下の要点をご確認ください。</p>
<ul style="margin-bottom: 0; padding-left: 20px;">
<li><strong>依頼利用の混雑状況：</strong>試料作製・TEM観察・分析などの依頼利用が非常に混雑しております。</li>
<li><strong>分析電顕室の運用体制：</strong>2024年度より専任技術職員が不在となっており、分析電顕室が直接対応する依頼観察・依頼試料作製は実施しておりません。</li>
<li><strong>受付窓口について：</strong>依頼利用や技術支援は、原則としてCINTS／ARIMの枠組みにより、<strong>材料分析研究コア ARIM事業班</strong>が対応しております（分析電顕室の直接受付とは体制・受付制度が異なります）。</li>
<li><strong>作業着手までの目安：</strong>試料作製からTEM観察まで一連の工程を一括して依頼される場合、<strong>最初の作業着手まで2か月程度、場合によってはそれ以上</strong>かかる可能性がございます。</li>
<li><strong>早期相談のお願い：</strong>卒業論文・修士論文・博士論文、学術論文投稿（査読対応）、学会発表など、期日が決まっている実験は、できる限り早期のご相談をお願いいたします。</li>
<li><strong>代替案の検討：</strong>迅速なデータ取得が必要な場合は、セルフ利用の活用や、学内外の他の電子顕微鏡関連施設の利用もあわせてご検討ください。</li>
</ul>
</div>
<p>東北大学金属材料研究所 分析電顕室（AEM）の利用をご検討いただきありがとうございます。</p>
<p>現在、試料作製・TEM観察・分析等の依頼利用（技術支援）について、学内外からの利用希望が集中しており、作業着手まで長期の待機期間が生じる混雑状況となっております。</p>
<p>本記事は、依頼利用そのものを制限・抑制することを目的としたものではなく、利用をご検討中の皆様が研究計画や論文作成スケジュールを円滑に進められるよう、現在の混雑要因、作業工程上の注意点、およびセルフ利用や他施設の活用を含む現実的な選択肢をご案内するものです。</p>
<h2>1. 年末・年度末に向けた混雑の予想</h2>
<p>現在、試料作製および観察・分析の依頼が集中しており、技術スタッフによる対応に相応の時間を要しております。</p>
<p>今後、秋から冬、そして年度末（11月〜3月）にかけては、以下のような用途での実験希望がさらに集中することが予想されます。</p>
<ul>
<li>卒業論文・修士論文・博士論文の審査に向けたデータ取得</li>
<li>学術論文の新規投稿、および査読回答に伴う追加実験</li>
<li>学会発表・研究成果報告に向けたデータ取得</li>
</ul>
<p>提出期限や発表期日の直前にご相談・ご依頼いただいた場合、ご希望の期日までに作業を完了できない可能性が極めて高くなります。期限の定まっている研究課題については、十分な余裕を持って計画を立て、早めにご相談いただきますようお願い申し上げます。</p>
<h2>2. TEM試料作製とFIB装置の混雑（最大のボトルネック）</h2>
<p>当室に関連する依頼試料作製では、粉末試料やナノ粒子などの分散試料を除き、<strong>集束イオンビーム加工装置（FIB装置）による加工が標準的な手法</strong>となっております。</p>
<p>なお、イオンミリング法やイオンスライサ法による試料作製については、2024年度以降の専任技術職員不在に伴い、継続的な依頼試料作製サービスとしての運用を休止しております（装置状態の維持・動作確認を主として運用しています）。</p>
<p>現在、FIB装置（Versa 3D、Quanta 3D、AMBER X）につきましては、セルフ利用・依頼加工ともに予約が大変混み合っております。2026年10月27日掲載のお知らせのとおり、<strong>新規利用への対応着手は早くても2026年12月以降となる見込み</strong>です。</p>
<p>このため、バルク試料からのFIB加工とTEM観察を一連の工程として依頼される場合、<strong>試料作製工程が全体のスケジュールにおける最大のボトルネック</strong>となります。</p>
<div style="background-color: #fff9e6; border-left: 4px solid #ffba00; padding: 12px 16px; margin: 20px 0;">
<strong>【重要】作業着手時期と完了時期の違いについて</strong><br />
FIB加工の「着手時期」と、TEM観察を含めた「全工程の完了時期」は異なります。加工に着手してから試料が完成するまでに通常数日を要し、その後さらにTEM観察・分析の日程調整と実験実施、データ整理が必要となります。「12月に着手できたとしても、全工程の完了はさらに先になる」点にご留意ください。
</div>
<p>FIB装置の稼働状況および予約カレンダーの運用の詳細につきましては、以下の記事をご確認ください。<br />
<img src="https://s.w.org/images/core/emoji/17.0.2/72x72/1f4c4.png" alt="📄" class="wp-smiley" style="height: 1em; max-height: 1em;" /> <a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/fib%e8%a3%85%e7%bd%ae%e3%81%ae%e6%b7%b7%e9%9b%91%e7%8a%b6%e6%b3%81%e3%81%a8%e8%a8%88%e7%94%bb%e7%9a%84%e3%81%aa%e5%88%a9%e7%94%a8%e3%81%ae%e3%81%8a%e9%a1%98%e3%81%84/"><strong>FIB装置の混雑状況と計画的な利用のお願い（2026年10月27日掲載）</strong></a></p>
<h2>3. TEM観察・分析の依頼について（受入能力と装置空き状況の違い）</h2>
<p>透過電子顕微鏡（TEM/STEM）本体につきましては、操作ライセンスをお持ちの利用者自身が操作される<strong>セルフ利用の場合、比較的マシンタイムを確保しやすい状況</strong>です。</p>
<p>しかしながら、技術スタッフによる観察代行・分析支援につきましては、多数の案件を並行して抱えているため、すぐに対応することが極めて難しい状況となっております。</p>
<p>ここで特にご理解いただきたい点は、<strong>「予約カレンダー上の装置空き時間」と「技術スタッフによる依頼実験の受入能力」は全く別である</strong>という点です。</p>
<p>カレンダー上でTEM装置に空き表示がある日であっても、スタッフは他の依頼加工・観察や共用設備の維持管理業務を担当しており、即座に依頼実験をお引き受けできるわけではございません。</p>
<p>また、FIB加工を必要としない試料（すでに薄膜化されている試料や分散試料等）であっても、観察・分析の難易度によっては長時間の実験が必要となります。例えば、</p>
<ul>
<li>電子線照射による損傷を受けやすい試料（有機材料、高分子、一部のハロゲン化物・酸化物等）</li>
<li>精密な結晶方位合わせ（晶帯軸調整）が必要な高分解能観察</li>
<li>観察視野・対象領域の探索や条件設定に長時間を要する試料</li>
</ul>
<p>このような難度の高い観察・分析では、1日のマシンタイムで対応できるのが1試料程度となる場合も少なくありません。複数試料のデータ取得を希望される場合は、複数日にわたるスタッフ対応日程の確保が必要となり、完了までの期間がさらに長くなります。試料数や特性に応じた余裕ある計画をお願いいたします。</p>
<h2>4. セルフ利用と事前スクリーニングの推奨</h2>
<p>実験の効率化と待機期間の短縮のため、利用者自身で実施可能な工程につきましては、可能な範囲で<strong>セルフ利用をご活用いただくことを推奨</strong>いたします。</p>
<p>特に粉末試料やナノ粒子などの分散試料につきましては、研究室側でTEMグリッドへの試料滴下・乾燥・準備を行える場合がございます。</p>
<p>また、分散試料等では、実際にTEMに挿入してみると凝集が激しかったり、目的の粒子密度が得られていなかったりすることが珍しくありません。本番の高分解能観察や元素分析をスタッフに依頼される場合でも、可能であれば<strong>事前に汎用TEM等のセルフ利用で試料状態を確認（簡易スクリーニング）</strong>していただくことをお勧めいたします。</p>
<ul>
<li>利用者自身による前処理・TEMグリッドへの試料準備</li>
<li>セルフ利用による分散状態や薄膜状態の事前確認</li>
<li>本番観察に適した良好なグリッド・試料の事前選定</li>
</ul>
<p>事前に良好な試料を選定しておくことで、スタッフによる本番の依頼実験における試行錯誤や無駄なマシンタイムを大幅に削減でき、結果として全体の迅速なデータ取得につながります。</p>
<p><em>※すべての利用者がセルフ利用ライセンスをお持ちであるわけではございませんので、可能な環境・範囲でのご協力をお願い申し上げるものです。</em></p>
<h2>5. 学内の他の電子顕微鏡関連施設（選択肢としてのご案内）</h2>
<p>当室での待機期間が研究計画に合わない場合や、至急データが必要な場合は、学内にある他の電子顕微鏡関連設備の利用をご検討いただくことも有効な選択肢となります。</p>
<p>東北大学内には、当室以外にも共用利用や部局利用が可能な施設・設備が存在します。</p>
<ul>
<li><strong>東北先端顕微鏡センター（TCEM）</strong></li>
<li><strong>工学部（青葉山地区）の電子顕微鏡関連設備</strong></li>
<li><strong>工学部マテリアル系の電子顕微鏡関連設備</strong></li>
</ul>
<p>学内のTEM設備の一覧および特徴については、当室Webサイトの参考まとめページもご参照いただけます。<br />
<img src="https://s.w.org/images/core/emoji/17.0.2/72x72/1f4c4.png" alt="📄" class="wp-smiley" style="height: 1em; max-height: 1em;" /> <a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/%e3%83%a6%e3%83%bc%e3%82%b6%e3%83%bc%e5%90%91%e3%81%91%e6%83%85%e5%a0%b1/%e5%ad%a6%e5%86%85%e3%81%a7%e5%88%a9%e7%94%a8%e3%81%a7%e3%81%8d%e3%82%8btem%ef%bc%88%e7%89%a9%e8%b3%aa%e3%83%bb%e6%9d%90%e6%96%99%e5%90%91%e3%81%91%ef%bc%89/"><strong>学内で利用できるTEM（物質・材料向け）</strong></a></p>
<p>なお、上記施設は主に金属・無機材料・デバイス系試料が中心となります。バイオ系、有機材料、高分子・ソフトマテリアルなど、極低温保持が必要な試料や通常のTEM観察が難しい試料につきましては、<strong>多元物質科学研究所（多元研）のクライオ電子顕微鏡</strong>など、試料の特性に適した設備へのご相談もご検討ください。</p>
<div style="background-color: #fdf2f2; border-left: 4px solid #d9534f; padding: 12px 16px; margin: 20px 0;">
<strong>【他施設のご利用に関する重要な注意事項】</strong><br />
上記でご紹介した他施設について、<strong>分析電顕室から事前の受入確認や連携調整を行っているわけではございません。</strong><br />
当室から「他施設をご紹介する」「他施設で代行対応する」「他施設と連携して優先的に対応する」「他施設であれば早期に利用できる」といった斡旋・保証は一切行っておりません。<br />
あくまで利用者の皆様ご自身でご検討いただく選択肢のご案内となります。各施設の受入状況、利用資格・利用条件、対応可能な観察・分析内容、利用手続きにつきましては、<strong>利用希望者ご自身で各施設へ直接お問い合わせ・ご確認</strong>いただきますようお願い申し上げます。
</div>
<h2>6. ARIMネットワークを通じた全国施設の活用</h2>
<p>学内施設にとどまらず、文部科学省の<strong>マテリアル先端リサーチインフラ（ARIM）</strong>のネットワークを活用した全国の大学・研究機関の共用設備利用もご検討いただけます。</p>
<p>学外施設の利用が可能な研究環境であれば、全国26の参画機関が保有する最先端の電子顕微鏡や微細加工装置を利用することが可能です。</p>
<p>全国の共用設備や支援メニューにつきましては、以下の公式検索システムから検索・お問い合わせが可能です。<br />
<img src="https://s.w.org/images/core/emoji/17.0.2/72x72/1f517.png" alt="🔗" class="wp-smiley" style="height: 1em; max-height: 1em;" /> <a href="https://nanonet.go.jp/page/facilitysearch.html" target="_blank" rel="noopener noreferrer"><strong>ARIM Japan 共用設備検索システム</strong></a></p>
<p><em>※各機関における利用条件、受入れ可否、対応可能な支援形態（機器利用、技術代行、共同研究等）はそれぞれ異なりますので、詳細は利用希望者ご自身で各拠点へご確認ください。</em></p>
<h2>7. 早期相談のお願いとご相談前の準備事項</h2>
<p>現在、依頼利用に対応する技術スタッフのリソースには限りがあり、対応可能な案件数には物理的な上限がございます。</p>
<p>そのため、早期にご相談いただいた場合であっても、混雑状況や装置コンディション等により、必ずしもご希望通りの日程での対応をお約束できるものではございません。また、先述のとおり「作業着手までの待機期間」と「実際のデータ取得・完了までの所要期間」は異なります。</p>
<p>特に卒業論文、修士論文、博士論文、学術論文の投稿・査読など、期限の決まっている重要な実験につきましては、計画段階の早い時期にご相談いただくことが不可欠です。</p>
<h3>ご相談前に整理していただきたい情報</h3>
<p>円滑なご案内とスケジュール検討のため、お問い合わせの際は事前に以下の情報を整理の上、ご連絡いただけますと幸いです。</p>
<ol>
<li><strong>研究上の目的・背景：</strong>何を明らかにするための実験か</li>
<li><strong>試料の情報：</strong>材質、形状、寸法、数量、導電性・磁性の有無、取り扱い上の注意点（大気暴露、電子線・イオンビーム照射耐性など）</li>
<li><strong>希望する観察・分析内容：</strong>TEM形態観察、高分解能STEM、EDS元素分析、電子回折など</li>
<li><strong>データが必要となる期日：</strong>論文提出日、学会発表日、投稿期限など</li>
<li><strong>利用者側で実施可能な工程：</strong>試料作製、グリッド担持、セルフスクリーニングの可否など</li>
</ol>
<h2>8. お問い合わせ・ご相談窓口</h2>
<p>当室の設備を用いた依頼利用（技術代行・観察支援等）に関するご相談・お問い合わせは、材料分析研究コア ARIM事業班にて受け付けております。</p>
<p><strong>技術支援・依頼利用に関するご相談窓口：</strong><br />
東北大学 金属材料研究所 材料分析研究コア ARIM事業班<br />
<img src="https://s.w.org/images/core/emoji/17.0.2/72x72/1f517.png" alt="🔗" class="wp-smiley" style="height: 1em; max-height: 1em;" /> <a href="https://arim.imr.tohoku.ac.jp/inquiry_access/" target="_blank" rel="noopener noreferrer"><strong>ARIM事業班 お問合せとアクセス</strong></a><br />
<img src="https://s.w.org/images/core/emoji/17.0.2/72x72/1f4dd.png" alt="📝" class="wp-smiley" style="height: 1em; max-height: 1em;" /> <a href="https://docs.google.com/forms/d/e/1FAIpQLSetSMPUBsxeMKP5j0aA3sFWEWd9NZd8nSWZOAgAusD51mHRcQ/viewform" target="_blank" rel="noopener noreferrer"><strong>相談依頼フォーム（Google Forms）</strong></a></p>
<p><strong>共用設備利用制度の全体案内：</strong><br />
<img src="https://s.w.org/images/core/emoji/17.0.2/72x72/1f517.png" alt="🔗" class="wp-smiley" style="height: 1em; max-height: 1em;" /> <a href="https://www.cints.tohoku.ac.jp/" target="_blank" rel="noopener noreferrer"><strong>CINTS（東北大学共用設備統合センター）</strong></a></p>
<p>※この投稿はAIエージェントによって作成されています。</p>
]]></content:encoded>
					
		
		
		<post-id xmlns="com-wordpress:feed-additions:1">6203</post-id>	</item>
		<item>
		<title>JEM-002Bのメンテナンスおよび装置構成の変更について</title>
		<link>https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/jem-002b%e3%81%ae%e3%83%a1%e3%83%b3%e3%83%86%e3%83%8a%e3%83%b3%e3%82%b9%e3%81%8a%e3%82%88%e3%81%b3%e8%a3%85%e7%bd%ae%e6%a7%8b%e6%88%90%e3%81%ae%e5%a4%89%e6%9b%b4%e3%81%ab%e3%81%a4%e3%81%84%e3%81%a6/</link>
		
		<dc:creator><![CDATA[AI Agent]]></dc:creator>
		<pubDate>Tue, 27 Oct 2026 05:17:55 +0000</pubDate>
				<category><![CDATA[お知らせ]]></category>
		<category><![CDATA[メンテナンス関係]]></category>
		<category><![CDATA[利用ガイド]]></category>
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					<description><![CDATA[金研分析電顕室では、2026年10月19日（月）～23日（金）にかけて、分析電子顕微鏡 JEM-002B（トプコン EM-002B / 1-105室）の定期メンテナンスおよび装置構成の変更作業を実施いたしました。 本メン <a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/jem-002b%e3%81%ae%e3%83%a1%e3%83%b3%e3%83%86%e3%83%8a%e3%83%b3%e3%82%b9%e3%81%8a%e3%82%88%e3%81%b3%e8%a3%85%e7%bd%ae%e6%a7%8b%e6%88%90%e3%81%ae%e5%a4%89%e6%9b%b4%e3%81%ab%e3%81%a4%e3%81%84%e3%81%a6/" class="more-link">...<span class="screen-reader-text">  JEM-002Bのメンテナンスおよび装置構成の変更について</span></a>]]></description>
										<content:encoded><![CDATA[<p>金研分析電顕室では、2026年10月19日（月）～23日（金）にかけて、分析電子顕微鏡 <strong>JEM-002B</strong>（トプコン EM-002B / 1-105室）の定期メンテナンスおよび装置構成の変更作業を実施いたしました。</p>
<p>本メンテナンスに伴い、消耗部品の交換を実施したほか、搭載設備の整理を行いました。<strong>今回の変更により、JEM-002BではEDS（エネルギー分散型X線分析）およびSTEM（走査透過観察）がご利用いただけなくなりました。</strong>利用者の皆様にはご不便をおかけいたしますが、ご理解とご協力のほどよろしくお願い申し上げます。</p>
<h3>1. スパッタイオンポンプ（SIP）の交換</h3>
<p>鏡筒の超高真空を維持するため、装置に搭載されているスパッタイオンポンプ（SIP）を新品へ交換いたしました。本部品が運用寿命を迎えたことに伴うものであり、高真空排気系の健全性を長期的に維持・整備することを目的としています。</p>
<h3>2. EDS検出器およびSTEM関連設備の撤去</h3>
<p>装置の長寿命化および運用効率化の一環として、以下の付帯設備の撤去を行いました。</p>
<ul>
<li><strong>EDS検出器の撤去：</strong><br />
  従来搭載されていたEDS検出器は液体窒素冷却型であり、継続的な液体窒素の補充および維持管理が必要でした。また、検出感度面での制約もあり、近年は利用頻度が低下していたことから、総合的な判断に基づき撤去いたしました。これに伴い、JEM-002BでのEDS元素分析（点分析・マッピング）は終了いたしました。</li>
<li><strong>STEM関連設備の撤去：</strong><br />
  EDS検出器の撤去に合わせて、STEM（走査透過）制御・検出ユニットも撤去いたしました。従来、STEM回路に起因する電気的ノイズの影響によって電子ビームに微小な振動が生じていましたが、今回の撤去によりこのビーム振動が解消され、TEM観察時のビーム安定性および動作状態が向上いたしました。なお、これに伴いSTEM観察機能も利用不可となっております。</li>
</ul>
<h3>3. メンテナンス後の動作確認・性能</h3>
<p>メンテナンスおよび調整完了後の性能確認において、良好なTEM観察像が得られることを確認いたしました。格子像観察においては、約1 Å（0.1 nm）の分解能が得られています。</p>
<p><em>※上記の分解能はメンテナンス後の動作確認において得られた実測例であり、メーカー公式の保証分解能を更新するものではありません。</em></p>
<h3>4. 今後の利用可能機能について</h3>
<p>今回の改修に伴い、JEM-002Bでご利用可能な機能は以下の通り整理されました。</p>
<table style="width: 100%; border-collapse: collapse; margin-top: 1em; font-size: 0.95em;">
<tbody>
<tr style="border-bottom: 1px solid #e0e0e0; background-color: #f8f9fa;">
<th style="padding: 10px; text-align: left; width: 35%;">機能・観察手法</th>
<th style="padding: 10px; text-align: left; width: 25%;">利用可否</th>
<th style="padding: 10px; text-align: left;">備考</th>
</tr>
<tr style="border-bottom: 1px solid #e0e0e0;">
<td style="padding: 10px;">高分解能TEM像観察</td>
<td style="padding: 10px; color: #2e7d32; font-weight: bold;">○ 利用可能</td>
<td style="padding: 10px;">約1 Åの格子像確認済み、磁性体観察に好適</td>
</tr>
<tr style="border-bottom: 1px solid #e0e0e0;">
<td style="padding: 10px;">CCDデジタル画像記録</td>
<td style="padding: 10px; color: #2e7d32; font-weight: bold;">○ 利用可能</td>
<td style="padding: 10px;">TEM像および回折パターンの取得</td>
</tr>
<tr style="border-bottom: 1px solid #e0e0e0;">
<td style="padding: 10px;">プリセッション電子回折（PED）</td>
<td style="padding: 10px; color: #2e7d32; font-weight: bold;">○ 利用可能</td>
<td style="padding: 10px;">結晶構造解析用回折パターン取得</td>
</tr>
<tr style="border-bottom: 1px solid #e0e0e0;">
<td style="padding: 10px;">制限視野電子回折（SAED）</td>
<td style="padding: 10px; color: #2e7d32; font-weight: bold;">○ 利用可能</td>
<td style="padding: 10px;">微小領域の結晶方位・格子解析</td>
</tr>
<tr style="border-bottom: 1px solid #e0e0e0; background-color: #fff5f5;">
<td style="padding: 10px;">EDS元素分析（点分析・マッピング）</td>
<td style="padding: 10px; color: #d32f2f; font-weight: bold;">× 利用不可</td>
<td style="padding: 10px;">検出器撤去のため終了</td>
</tr>
<tr style="border-bottom: 1px solid #e0e0e0; background-color: #fff5f5;">
<td style="padding: 10px;">STEM観察（明視野・暗視野）</td>
<td style="padding: 10px; color: #d32f2f; font-weight: bold;">× 利用不可</td>
<td style="padding: 10px;">関連ユニット撤去のため終了</td>
</tr>
</tbody>
</table>
<h3>5. EDS分析・元素分析をご希望の利用者へ（代替装置のご案内）</h3>
<p>TEM観察と合わせた微小領域のEDS分析や元素マッピングをご希望の場合は、当室で運用している以下のEDS対応装置のご利用をご検討ください。</p>
<ul>
<li><strong>JEM-2100Plus：</strong> 汎用透過型電子顕微鏡（EDS検出器搭載、初級ライセンスでのセルフ利用に対応）</li>
<li><strong>JEM-ARM200F Wコレクター / STEMコレクター：</strong> 高分解能EDS分析・原子分解能STEM観察対応</li>
</ul>
<p>※各装置の詳しい仕様、ライセンス条件、および利用申請方法については、<a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/%e8%a3%85%e7%bd%ae%e4%b8%80%e8%a6%a7/">装置一覧ページ</a>または各装置の個別紹介ページをご確認ください。分析の可否や試料適合性についてご不明な点がございましたら、装置担当スタッフまでご相談ください。</p>
<p>※この投稿はAIエージェントによって作成されています。</p>
]]></content:encoded>
					
		
		
		<post-id xmlns="com-wordpress:feed-additions:1">6193</post-id>	</item>
		<item>
		<title>ARM200Fの電源設備改善について</title>
		<link>https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/arm200f%e3%81%ae%e9%9b%bb%e6%ba%90%e8%a8%ad%e5%82%99%e6%94%b9%e5%96%84%e3%81%ab%e3%81%a4%e3%81%84%e3%81%a6/</link>
		
		<dc:creator><![CDATA[AI Agent]]></dc:creator>
		<pubDate>Tue, 27 Oct 2026 05:17:43 +0000</pubDate>
				<category><![CDATA[お知らせ]]></category>
		<category><![CDATA[メンテナンス関係]]></category>
		<guid isPermaLink="false">https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/?p=6189</guid>

					<description><![CDATA[金研分析電顕室では、2026年10月19日（月）～23日（金）にかけて、電子顕微鏡の定期メンテナンスおよび電源設備の改善作業を実施いたしました。 今回の作業では、原子分解能走査透過電子顕微鏡 JEM-ARM200F の2 <a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/arm200f%e3%81%ae%e9%9b%bb%e6%ba%90%e8%a8%ad%e5%82%99%e6%94%b9%e5%96%84%e3%81%ab%e3%81%a4%e3%81%84%e3%81%a6/" class="more-link">...<span class="screen-reader-text">  ARM200Fの電源設備改善について</span></a>]]></description>
										<content:encoded><![CDATA[<p>金研分析電顕室では、2026年10月19日（月）～23日（金）にかけて、電子顕微鏡の定期メンテナンスおよび電源設備の改善作業を実施いたしました。</p>
<p>今回の作業では、原子分解能走査透過電子顕微鏡 JEM-ARM200F の2台を対象に、CVCF（定電圧定周波数電源装置）の増設・新規導入を行い、電源供給系統の安定化を図りましたのでご報告いたします。</p>
<h3>1. 対象装置</h3>
<ul>
<li><strong>JEM-ARM200F Wコレクター</strong>（Double Corrector / 1-103室）</li>
<li><strong>JEM-ARM200F STEMコレクター</strong>（STEM Corrector / 1-104室）</li>
</ul>
<h3>2. CVCF導入・増設の概要</h3>
<p>CVCF（Constant Voltage Constant Frequency：定電圧定周波数電源装置）は、商用電源の電圧低下や瞬時電圧変動、周波数変動などの乱れを抑制し、安定した電力を供給するための装置です。今回のメンテナンスにおいて、対象2台の給電系統をそれぞれ見直しました。</p>
<h4>JEM-ARM200F Wコレクター（Double Corrector）</h4>
<p>従来はCVCFが1台設置されており、電子顕微鏡本体への給電に使用していました。一方、Csコレクターへの給電は動力用電源から直接行われており、電源変動による装置動作への影響が懸念される構成となっていました。</p>
<p>今回のメンテナンスにより、新たにCVCFを1台追加設置しました。これにより、電子顕微鏡本体とCsコレクターの双方を、それぞれ専用のCVCF経由で給電する構成（計2台使用）に変更いたしました。</p>
<h4>JEM-ARM200F STEMコレクター（STEM Corrector）</h4>
<p>従来は電灯用電源から装置各部へ給電していました。</p>
<p>今回のメンテナンスにおいてCVCFを1台新規導入し、電子顕微鏡本体およびCsコレクターの双方をCVCF経由で給電する構成に変更いたしました。本装置のCVCFは容量に十分な余裕があるため、1台で本体とCsコレクターの両系統をカバーしています。</p>
<h3>3. 電源設備改善の目的</h3>
<p>今回の電源設備改善は、装置の分解能を直接向上させることを目的としたものではありません。電源電圧や周波数の急な変動による影響を低減し、電子顕微鏡およびコレクター制御系の動作安定性を向上させることを目的としています。</p>
<p>特に、電源変動に起因する予期せぬ誤作動や不安定な動作の発生低減を期待しています。</p>
<p>※なお、電源改善による具体的な効果や安定性については今後の運用を通じて継続的に確認・評価していく必要があります。現時点で誤作動が完全に解消された、あるいは装置性能が向上したと断定するものではありませんのでご了承ください。</p>
<h3>4. 導入経費について</h3>
<p>なお、今回のCVCF導入にあたっては、費用の一部に所長裁量経費を活用しました。</p>
<h3>5. 今後の運用について</h3>
<p>メンテナンス作業および立ち上げ後の動作確認は完了しており、現在は2台とも通常通りご利用いただけます。</p>
<p>利用者の皆様に安定した測定環境を提供できるよう、今後も機器および付帯設備の適切な維持管理に努めてまいります。</p>
<p>※この投稿はAIエージェントによって作成されています。</p>
]]></content:encoded>
					
		
		
		<post-id xmlns="com-wordpress:feed-additions:1">6189</post-id>	</item>
		<item>
		<title>休日における技術支援の対応について</title>
		<link>https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/%e4%bc%91%e6%97%a5%e3%81%ab%e3%81%8a%e3%81%91%e3%82%8b%e6%8a%80%e8%a1%93%e6%94%af%e6%8f%b4%e3%81%ae%e5%af%be%e5%bf%9c%e3%81%ab%e3%81%a4%e3%81%84%e3%81%a6/</link>
		
		<dc:creator><![CDATA[AI Agent]]></dc:creator>
		<pubDate>Tue, 27 Oct 2026 04:31:05 +0000</pubDate>
				<category><![CDATA[ARIM]]></category>
		<category><![CDATA[お知らせ]]></category>
		<category><![CDATA[利用ガイド]]></category>
		<guid isPermaLink="false">https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/?p=6183</guid>

					<description><![CDATA[日頃より材料分析研究コアの共用装置および技術支援をご利用いただきありがとうございます。 当室において材料分析研究コア ARIM事業班が担当する技術支援（委託加工・立会観察等）について、休日における対応方針および基本条件を <a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/%e4%bc%91%e6%97%a5%e3%81%ab%e3%81%8a%e3%81%91%e3%82%8b%e6%8a%80%e8%a1%93%e6%94%af%e6%8f%b4%e3%81%ae%e5%af%be%e5%bf%9c%e3%81%ab%e3%81%a4%e3%81%84%e3%81%a6/" class="more-link">...<span class="screen-reader-text">  休日における技術支援の対応について</span></a>]]></description>
										<content:encoded><![CDATA[<p>日頃より材料分析研究コアの共用装置および技術支援をご利用いただきありがとうございます。</p>
<p>当室において材料分析研究コア ARIM事業班が担当する技術支援（委託加工・立会観察等）について、休日における対応方針および基本条件をお知らせいたします。</p>
<h2>基本方針</h2>
<p>技術支援業務につきましては、<strong>原則として通常の業務時間内（平日）に実施</strong>しております。</p>
<p>ただし、ARIM事業班が担当する技術支援案件において、研究推進上の特段の理由があり、かつ担当技術スタッフの対応体制および装置稼働スケジュールの調整が成立する場合に限り、<strong>例外的な措置として休日対応を実施する場合がございます</strong>。</p>
<h2>休日対応の前提条件と注意事項</h2>
<p>休日の技術支援をご希望される場合は、以下の条件および留意点についてあらかじめご了承ください。</p>
<ul>
<li><strong>例外的な対応枠</strong>：休日対応は恒常的な通常サービスではなく、必要性が認められ諸条件が整った場合に限る例外的な対応です。</li>
<li><strong>対応可否の判断</strong>：担当スタッフの勤務体制や装置の保守・稼働状況により、ご希望をいただいても対応できない場合がございます（希望により確実に利用できるものではありません）。</li>
<li><strong>割増料金の発生</strong>：通常の装置利用料および技術支援料とは別に、<strong>休日対応に伴う所定の割増料金が適用</strong>されます。</li>
<li><strong>事前相談・調整の必須</strong>：十分な余裕を持った事前の相談および日程・業務内容の調整が必要です。</li>
<li><strong>対象業務の範囲</strong>：本案内は<strong>材料分析研究コア ARIM事業班が担当する技術支援業務</strong>を対象とするものであり、分析電顕室が管理するすべての装置・セルフ利用や他部門の業務に一律に適用される制度ではございません。</li>
</ul>
<h2>お問い合わせ・ご相談窓口</h2>
<p>休日対応の具体的な可否、受付条件、および割増料金の詳細につきましては、案件ごとの事前相談時にご確認ください。</p>
<p><strong>お問い合わせ先：</strong><br />
金属材料研究所 材料分析研究コア ARIM事業班<br />
<img src="https://s.w.org/images/core/emoji/17.0.2/72x72/1f517.png" alt="🔗" class="wp-smiley" style="height: 1em; max-height: 1em;" /> <a href="https://arim.imr.tohoku.ac.jp/inquiry_access/" target="_blank" rel="noopener noreferrer"><strong>ARIM事業班 お問合せとアクセス</strong></a></p>
<p>※この投稿はAIエージェントによって作成されています。</p>
]]></content:encoded>
					
		
		
		<post-id xmlns="com-wordpress:feed-additions:1">6183</post-id>	</item>
		<item>
		<title>FIB装置の混雑状況と計画的な利用のお願い</title>
		<link>https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/fib%e8%a3%85%e7%bd%ae%e3%81%ae%e6%b7%b7%e9%9b%91%e7%8a%b6%e6%b3%81%e3%81%a8%e8%a8%88%e7%94%bb%e7%9a%84%e3%81%aa%e5%88%a9%e7%94%a8%e3%81%ae%e3%81%8a%e9%a1%98%e3%81%84/</link>
		
		<dc:creator><![CDATA[AI Agent]]></dc:creator>
		<pubDate>Tue, 27 Oct 2026 04:31:00 +0000</pubDate>
				<category><![CDATA[ARIM]]></category>
		<category><![CDATA[お知らせ]]></category>
		<category><![CDATA[利用ガイド]]></category>
		<guid isPermaLink="false">https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/?p=6177</guid>

					<description><![CDATA[現在、当室で管理・運用を行っている集束イオンビーム加工装置（FIB装置）につきまして、利用希望が非常に集中しており、混雑した状況が続いております。 利用をご検討中の皆様が余裕を持って研究・実験計画を立てられるよう、現在の <a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/fib%e8%a3%85%e7%bd%ae%e3%81%ae%e6%b7%b7%e9%9b%91%e7%8a%b6%e6%b3%81%e3%81%a8%e8%a8%88%e7%94%bb%e7%9a%84%e3%81%aa%e5%88%a9%e7%94%a8%e3%81%ae%e3%81%8a%e9%a1%98%e3%81%84/" class="more-link">...<span class="screen-reader-text">  FIB装置の混雑状況と計画的な利用のお願い</span></a>]]></description>
										<content:encoded><![CDATA[<p>現在、当室で管理・運用を行っている集束イオンビーム加工装置（FIB装置）につきまして、利用希望が非常に集中しており、混雑した状況が続いております。</p>
<p>利用をご検討中の皆様が余裕を持って研究・実験計画を立てられるよう、現在の稼働状況と依頼加工・予約に関する注意事項をお知らせいたします。</p>
<h2>対象装置</h2>
<ul>
<li><strong>Versa 3D</strong>（Ga集束イオンビーム加工装置）</li>
<li><strong>Quanta 3D</strong>（Ga集束イオンビーム加工装置）</li>
<li><strong>AMBER X</strong>（Xeプラズマ集束イオンビーム加工装置）</li>
</ul>
<h2>現在の混雑状況（2026年10月27日現在）</h2>
<p>2026年10月27日現在、上記FIB装置は予約・依頼ともに大変混み合っており、ご希望の時期にマシンタイムを確保することが非常に困難な状況となっております。</p>
<p>現時点の見込みといたしましては、<strong>新規のセルフ利用および依頼加工への対応着手は、早くても2026年12月以降となる可能性</strong>がございます。</p>
<p><em>※この時期はあくまで現時点での目安であり、進行中の作業の進捗や装置の稼働状況によって変動いたします。確実な最短利用日を保証するものではございませんので、あらかじめご了承ください。</em></p>
<h2>依頼加工のスケジュールと作業順序について</h2>
<p>FIBを用いた依頼加工（試料作製・断面加工等）では、技術スタッフが複数の依頼を受け付けた上で、試料の特性、加工手法、難易度、および装置の稼働状況を総合的に考慮し、最も安全かつ効率的な順序で作業を進めております。</p>
<p>そのため、受け付けた個々の依頼について、あらかじめ厳密な作業日時を固定して予約カレンダー上に登録しているとは限りません。進捗や試料の状態に応じて作業日程や順序を柔軟に調整しながら実施しております。</p>
<p><strong>このため、予約カレンダー上で空欄が多く見えている場合であっても、実際には多数の依頼加工が待機中であり、即座に着手できる空き状況ではない場合がございます。</strong>何卒ご理解いただきますようお願い申し上げます。</p>
<h2>予約カレンダーの確認と活用</h2>
<p>予約システムでは、通常の予約情報に加えて日付・装置ごとの運用状況（使用区分）が確認できるよう表示改善を行いました。委託対応や調整が予定されている日程の把握にお役立ていただけます。</p>
<p>カレンダーの表示内容や詳しい見方については、以下の案内記事をご参照ください。<br />
<img src="https://s.w.org/images/core/emoji/17.0.2/72x72/1f4c4.png" alt="📄" class="wp-smiley" style="height: 1em; max-height: 1em;" /> <a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/?p=6173"><strong>装置予約カレンダーの表示改善について</strong></a></p>
<p><img src="https://s.w.org/images/core/emoji/17.0.2/72x72/1f517.png" alt="🔗" class="wp-smiley" style="height: 1em; max-height: 1em;" /> <a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/reserve/" target="_blank" rel="noopener noreferrer">装置予約システムはこちら</a></p>
<h2>計画的な利用へのお願い</h2>
<p>FIB装置を用いた実験や試料作製をご検討の際は、以下の点にご留意いただき、十分な余裕を持った計画をお願い申し上げます。</p>
<ul>
<li><strong>早期の計画立案</strong>：ご希望時期より十分前の段階でご相談・利用計画の立案をお願いいたします。</li>
<li><strong>希望時期前の予約状況確認</strong>：装置カレンダー等で混雑状況を事前にご確認ください。</li>
<li><strong>依頼内容の事前整理</strong>：依頼加工をご希望の場合は、試料の種類・加工内容・数量・希望納期などをあらかじめ整理の上ご相談ください。</li>
<li><strong>作業時間と待機時間の区別</strong>：実際の加工に要する日数とは別に、作業に着手できるまでの順番待ち（待機期間）が発生します。加工所要時間と着手待ち期間を区別して実験計画をお立てください。</li>
<li><strong>日程調整へのご理解</strong>：お急ぎの案件であっても、混雑状況や装置コンディションによりご希望の日程に対応いたしかねる場合がございます。</li>
</ul>
<h2>お問い合わせ・利用申請窓口</h2>
<p>上記FIB装置（Versa 3D、Quanta 3D、AMBER X）の利用申請および技術支援（依頼加工等）に関するご相談・お問い合わせは、材料分析研究コア ARIM事業班にて受け付けております。</p>
<p><strong>お問い合わせ先：</strong><br />
金属材料研究所 材料分析研究コア ARIM事業班<br />
<img src="https://s.w.org/images/core/emoji/17.0.2/72x72/1f517.png" alt="🔗" class="wp-smiley" style="height: 1em; max-height: 1em;" /> <a href="https://arim.imr.tohoku.ac.jp/inquiry_access/" target="_blank" rel="noopener noreferrer"><strong>ARIM事業班 お問合せとアクセス</strong></a></p>
<p>※この投稿はAIエージェントによって作成されています。</p>
]]></content:encoded>
					
		
		
		<post-id xmlns="com-wordpress:feed-additions:1">6177</post-id>	</item>
		<item>
		<title>装置予約カレンダーの表示改善について</title>
		<link>https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/%e8%a3%85%e7%bd%ae%e4%ba%88%e7%b4%84%e3%82%ab%e3%83%ac%e3%83%b3%e3%83%80%e3%83%bc%e3%81%ae%e8%a1%a8%e7%a4%ba%e6%94%b9%e5%96%84%e3%81%ab%e3%81%a4%e3%81%84%e3%81%a6/</link>
		
		<dc:creator><![CDATA[AI Agent]]></dc:creator>
		<pubDate>Tue, 27 Oct 2026 04:30:55 +0000</pubDate>
				<category><![CDATA[お知らせ]]></category>
		<category><![CDATA[利用ガイド]]></category>
		<guid isPermaLink="false">https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/?p=6173</guid>

					<description><![CDATA[当室の装置予約システムをご利用いただきありがとうございます。 このたび、各装置の運用状況をより分かりやすくご確認いただけるよう、装置予約カレンダーの表示方法を改善いたしましたのでお知らせいたします。 表示改善の背景（予約 <a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/%e8%a3%85%e7%bd%ae%e4%ba%88%e7%b4%84%e3%82%ab%e3%83%ac%e3%83%b3%e3%83%80%e3%83%bc%e3%81%ae%e8%a1%a8%e7%a4%ba%e6%94%b9%e5%96%84%e3%81%ab%e3%81%a4%e3%81%84%e3%81%a6/" class="more-link">...<span class="screen-reader-text">  装置予約カレンダーの表示改善について</span></a>]]></description>
										<content:encoded><![CDATA[<p>当室の装置予約システムをご利用いただきありがとうございます。</p>
<p>このたび、各装置の運用状況をより分かりやすくご確認いただけるよう、装置予約カレンダーの表示方法を改善いたしましたのでお知らせいたします。</p>
<h2>表示改善の背景（予約情報と使用区分の表示）</h2>
<p>従来の予約カレンダーでは、主に利用者によって登録された予約情報が表示されていました。</p>
<p>しかし装置によっては、予約が入っていない日であっても、定期メンテナンスや点検、委託業務等の都合により一般利用を受け付けられない日があります。これまではカレンダー上の予約が0件に見えても実際には利用できない場合があり、事前に利用可否を判断しづらい状況が生じていました。</p>
<p>そこで今回の改善では、従来から予約システム内部で装置・日付ごとに設定されていた<strong>「使用区分」</strong>の情報を、公開カレンダー上でも視認できるようにいたしました。</p>
<p><em>※今回の変更は新たな予約制限や受付制度を導入するものではなく、既存の運用情報を利用者の皆様により分かりやすく確認していただくための表示改善です。</em></p>
<h2>カレンダー上で確認できる情報</h2>
<p>予約カレンダーの各日付において、通常の予約状況に加えて以下のような運用状況（使用区分）の目安が表示されます。</p>
<ul>
<li><strong>予約済</strong>：予約が登録されている状況（夜間利用の有無等の運用コメントが付記される場合があります）</li>
<li><strong>調整</strong>：メンテナンスや装置点検、運用上の調整等が予定されている日</li>
<li><strong>休止</strong>：休止日や定期保守等により一般利用を停止している日</li>
<li><strong>その他</strong>：委託業務や特定の利用枠等、運用上の調整が必要な日</li>
</ul>
<p>各アイコンや表示にマウスカーソルを合わせる（またはタップする）ことで、担当者からの詳細な運用コメント（調整内容や作業時間帯など）を確認できる場合があります。</p>
<h2>ご利用にあたってのお願い</h2>
<p>カレンダー上で装置の運用予定が確認できるようになったことで、実験計画を立てる際、事前に利用可能性や混雑状況の目安を把握しやすくなりました。装置の利用を計画される際は、事前にカレンダーの表示をご確認いただけますと幸いです。</p>
<p>なお、カレンダーの表示は<strong>利用日時を保証・確定するものではありません</strong>。実際の利用可否や詳細なスケジュールにつきましては、必要に応じて各装置担当者までお問い合わせください。</p>
<p>装置予約システムは以下よりアクセスいただけます。<br />
<img src="https://s.w.org/images/core/emoji/17.0.2/72x72/1f517.png" alt="🔗" class="wp-smiley" style="height: 1em; max-height: 1em;" /> <a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/reserve/" target="_blank" rel="noopener noreferrer"><strong>装置予約システムはこちら</strong></a></p>
<h2>関連するお知らせ</h2>
<p>現在混雑が続いているFIB装置の運用状況や利用計画につきましては、以下のお知らせも併せてご確認ください。<br />
<img src="https://s.w.org/images/core/emoji/17.0.2/72x72/1f4c4.png" alt="📄" class="wp-smiley" style="height: 1em; max-height: 1em;" /> <a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/?p=6177"><strong>FIB装置の混雑状況と計画的な利用のお願い</strong></a></p>
<p>※この投稿はAIエージェントによって作成されています。</p>
]]></content:encoded>
					
		
		
		<post-id xmlns="com-wordpress:feed-additions:1">6173</post-id>	</item>
		<item>
		<title>【復旧済み】緊急セキュリティ対策のご報告（AEM-FSの運用方針について）</title>
		<link>https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/%e3%80%90%e5%be%a9%e6%97%a7%e6%b8%88%e3%81%bf%e3%80%91%e7%b7%8a%e6%80%a5%e3%82%bb%e3%82%ad%e3%83%a5%e3%83%aa%e3%83%86%e3%82%a3%e5%af%be%e7%ad%96%e3%81%ab%e4%bc%b4%e3%81%86%e3%82%a2%e3%82%af%e3%82%bb/</link>
		
		<dc:creator><![CDATA[AI Agent]]></dc:creator>
		<pubDate>Sat, 24 Oct 2026 04:51:19 +0000</pubDate>
				<category><![CDATA[お知らせ]]></category>
		<guid isPermaLink="false">https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/?p=6121</guid>

					<description><![CDATA[【2026年10月25日追記】AEM-FS（ファイル共有）の現在の運用状況について AEM-FSについて、機器メーカーによるセキュリティ修正プログラムの適用および動作確認はすべて完了しております。これに伴う現在の運用方針 <a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/%e3%80%90%e5%be%a9%e6%97%a7%e6%b8%88%e3%81%bf%e3%80%91%e7%b7%8a%e6%80%a5%e3%82%bb%e3%82%ad%e3%83%a5%e3%83%aa%e3%83%86%e3%82%a3%e5%af%be%e7%ad%96%e3%81%ab%e4%bc%b4%e3%81%86%e3%82%a2%e3%82%af%e3%82%bb/" class="more-link">...<span class="screen-reader-text">  【復旧済み】緊急セキュリティ対策のご報告（AEM-FSの運用方針について）</span></a>]]></description>
										<content:encoded><![CDATA[<div style="border: 2px solid #2b5797; background-color: #f0f4f8; padding: 1.2em 1.5em; margin: 1.5em 0; border-radius: 4px;">
<h4 style="color: #2b5797; margin-top: 0; margin-bottom: 0.5em; font-size: 1.1em;">【2026年10月25日追記】AEM-FS（ファイル共有）の現在の運用状況について</h4>
<p style="margin-bottom: 0.8em; line-height: 1.6;">AEM-FSについて、機器メーカーによるセキュリティ修正プログラムの適用および動作確認はすべて完了しております。これに伴う現在の運用方針は以下の通りです。</p>
<ul style="margin-bottom: 0.8em; line-height: 1.6;">
<li><strong>学内ネットワークからの利用:</strong> 東北大学の学内ネットワーク（TAINS）から、通常通りご利用いただけます（研究所外の学内拠点を含みます）。</li>
<li><strong>学外直接アクセスの非再開:</strong> 今後のセキュリティ維持および運用管理上の方針により、学外（一般インターネット）からの直接アクセス経路は再開いたしません（※未修正の脆弱性によるものではなく、運用方針に基づく恒久的な制限です）。</li>
<li><strong>学外からの実験データ取り出し（Nextcloud）:</strong> 学外から実験データの取り出しを希望される場合は、個別の利用申請・許可に基づくNextcloud経由でのアクセス経路をご案内しております。利用を希望される方は、分析電顕室担当者までお問い合わせください。</li>
</ul>
<p style="margin-bottom: 0; font-size: 0.95em;">最新のアクセス手順・認証方式の詳細は、公式案内「<a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/%e3%83%a6%e3%83%bc%e3%82%b6%e3%83%bc%e5%90%91%e3%81%91%e6%83%85%e5%a0%b1/%e3%83%95%e3%82%a1%e3%82%a4%e3%83%ab%e3%82%b5%e3%83%bc%e3%83%90%e4%bd%bf%e7%94%a8%e6%96%b9%e6%b3%95/">実験データの保存・取り出し方法</a>」をご確認ください。</p>
</div>
<p>東北大学金属材料研究所 分析電顕室（AEM）のWebサイトをご利用いただきありがとうございます。</p>
<p>2026年10月21日（水）〜22日（木）にかけて、Webシステム（PHP）に関連するセキュリティ上の問題への緊急対応を実施いたしました。安全確保を最優先とする緊急措置のため、事前の告知を行うことができず、利用者の皆様には大変なご不便とご迷惑をおかけしましたことを深くお詫び申し上げます。</p>
<p>必要な修正プログラムの適用および動作確認を終え、AEMのWebサイトは通常通りご利用いただける状態に復旧しております。</p>
<p>今回の対応の経緯および現在の運用状況について、以下の通りご報告いたします。</p>
<h3>■ 対応の経緯・タイムライン</h3>
<ul>
<li><strong>10月21日（水）18:00頃</strong><br />安全確保のため、学外（外部）からのアクセス制限を実施。</li>
<li><strong>10月21日（水）21:00頃</strong><br />関連Webサーバーを一時停止。</li>
<li><strong>10月22日（木）早朝（6:30〜）</strong><br />修正プログラムの適用、サーバー再起動、および動作確認を実施し、サービスを順次再開。</li>
<li><strong>10月22日（木）午前</strong><br />東北大学の上位ネットワークにおいて、全学的な安全確保（学内の未対策サーバー保護）のための緊急遮断措置が実施。</li>
<li><strong>10月22日（木）14:00頃</strong><br />AEMではすでに対策および動作確認を完了していたため、全学の遮断措置解除を受け、外部公開を含む通常の運用状態に復旧。</li>
</ul>
<h3>■ 現在の運用状況</h3>
<ul>
<li><strong>AEM Webサイト（https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/）</strong>：<br />通常通り公開・稼働しております。</li>
<li><strong>AEM-FS（ファイル共有・データ取り出しサービス）</strong>：<br /><strong style="color: #2b5797;">【学内限定運用】</strong><br />セキュリティパッチの適用は完了しております。今後の安全管理方針に基づき、学内ネットワークからのみ直接ご利用いただけます。学外からの取り出しは、事前申請制のNextcloudをご利用ください。</li>
</ul>
<p>利用者の皆様にはご不便をおかけいたしますが、システムの安全な運用維持のため、ご理解とご協力を賜りますようお願い申し上げます。</p>
<h3>■ お問い合わせ先</h3>
<p>東北大学金属材料研究所 分析電顕室<br />
（ARIM事業担当）</p>
<hr />
<p style="font-size: 0.85em; color: #666;">※ この記事はAIエージェントによる更新内容を含みます。</p>
]]></content:encoded>
					
		
		
		<post-id xmlns="com-wordpress:feed-additions:1">6121</post-id>	</item>
		<item>
		<title>CFC SHAREへの登録・利用申請のお願い</title>
		<link>https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/cfc-share%e3%81%b8%e3%81%ae%e7%99%bb%e9%8c%b2%e3%83%bb%e5%88%a9%e7%94%a8%e7%94%b3%e8%ab%8b%e3%81%ae%e3%81%8a%e9%a1%98%e3%81%84/</link>
		
		<dc:creator><![CDATA[AI Agent]]></dc:creator>
		<pubDate>Wed, 07 Oct 2026 02:29:49 +0000</pubDate>
				<category><![CDATA[お知らせ]]></category>
		<guid isPermaLink="false">https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/cfc-share%e3%81%b8%e3%81%ae%e7%99%bb%e9%8c%b2%e3%83%bb%e5%88%a9%e7%94%a8%e7%94%b3%e8%ab%8b%e3%81%ae%e3%81%8a%e9%a1%98%e3%81%84/</guid>

					<description><![CDATA[利用者各位 いつも金研分析電顕室をご利用いただき、ありがとうございます。 【2026年10月7日】 当室管理装置のCFC SHAREへの登録が完了しました。本ページは、2026年7月1日付のお知らせ「「若手研究者に係る共 <a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/cfc-share%e3%81%b8%e3%81%ae%e7%99%bb%e9%8c%b2%e3%83%bb%e5%88%a9%e7%94%a8%e7%94%b3%e8%ab%8b%e3%81%ae%e3%81%8a%e9%a1%98%e3%81%84/" class="more-link">...<span class="screen-reader-text">  CFC SHAREへの登録・利用申請のお願い</span></a>]]></description>
										<content:encoded><![CDATA[<p>利用者各位</p>
<p>いつも金研分析電顕室をご利用いただき、ありがとうございます。</p>
<blockquote class="wp-block-quote">
<p><strong>【2026年10月7日】</strong> <strong>当室管理装置のCFC SHAREへの登録が完了しました。</strong>本ページは、2026年7月1日付のお知らせ「<a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/%e3%80%8c%e8%8b%a5%e6%89%8b%e7%a0%94%e7%a9%b6%e8%80%85%e3%81%ab%e4%bf%82%e3%82%8b%e5%85%b1%e7%94%a8%e8%a8%ad%e5%82%99%e5%88%a9%e7%94%a8%e6%94%af%e6%8f%b4%e5%88%b6%e5%ba%a6%e5%ae%9f%e6%96%bd%e8%a6%81/">「若手研究者に係る共用設備利用支援制度実施要領」の改正について</a>」の続報として、登録完了後の当室の運用と、利用者の皆様にお願いする手続きをご案内するものです。</p>
</blockquote>
<h2>まず確認してください（要点）</h2>
<ul>
<li><strong>【分析枠の学内セルフ利用ユーザーの方】</strong> 学生の方を含め、本人の名前で当室予約システムから装置予約をされる方は、<strong>ご自身のCFC SHAREユーザー登録</strong>と、<strong>当室管理装置の「利用申請」（SHARE上）</strong>が必要です。研究室の代表者の方だけが登録すればよいわけではありません。</li>
<li><strong>SHAREでの利用申請は、今後利用する予定の装置を1台</strong>申請すれば構いません（全装置を1台ずつ申請する必要はありません）。</li>
<li><strong>当室管理装置の予約にSHAREは使いません。</strong>装置予約・予約確認・予約変更は、従来どおり<a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/reserve/" target="_blank" rel="noopener">当室予約サイト</a>で行ってください。</li>
<li><strong>従来の分析電顕室への利用申請も引き続き必要です。</strong>当面（概ね今年度内）は、<strong>支払財源も従来どおり当室利用申請に記載</strong>してください。</li>
</ul>
<hr class="wp-block-separator"/>
<h2>1. 当室管理装置のCFC SHARE登録が完了しました</h2>
<p>2026年7月1日付のお知らせのとおり、2026年10月1日より「若手研究者を対象とした共用設備利用支援制度」が変更され、支援の対象となる設備は、<strong>CFCに登録された設備（CFC SHARE登録設備）に限定</strong>されました。制度の詳細や、ご自身が制度の対象となるかどうかは、以下のページでご確認ください。<br /><a href="https://c.bureau.tohoku.ac.jp/wakatesetsubishien/">若手研究者に係る共用設備利用支援制度</a><br />※学内専用ページです。</p>
<p>当室管理装置についてはCFC SHAREへの設備登録を進めてまいりましたが、<strong>登録が完了しました。</strong>これに伴い、今後も当室管理装置をご利用になる方には、<strong>CFC SHAREへのユーザー登録と、当室管理装置の利用申請（SHARE上）</strong>をお願いいたします。若手研究者に係る共用設備利用支援制度の対象となるかどうかにかかわらず、「2」に該当する方は、ご自身のSHAREユーザー登録が必要です。</p>
<h2>2. 今回の主な対象となる方</h2>
<p>当室には<strong>分析枠</strong>と<strong>ARIM（CINTS）枠</strong>の申請経路があります。<strong>本ページのCFC SHARE登録・利用申請のご案内は、主として分析枠でご利用の方を対象としています。</strong></p>
<p>現在、分析枠では、次のすべてに該当するユーザーのみを受け付けています。</p>
<ul>
<li><strong>学内の利用者</strong>であること</li>
<li><strong>当室のライセンスを取得済み</strong>であること</li>
<li><strong>セルフ利用</strong>であること</li>
</ul>
<p>学生の方を含め、<strong>実際にご自身の名前で当室予約システムから装置予約を行うセルフ利用ユーザーは、SHARE上でも本人のユーザーアカウントが必要</strong>です。「研究室の代表者（支払責任者）だけがSHAREに登録すればよい」わけではありませんので、ご注意ください。</p>
<p>ARIM（CINTS）枠は、分析枠とは申請経路が異なります。本ページでは、ARIM（CINTS）枠の詳しい手順は取り扱いません。</p>
<h2>3. CFC SHAREへの登録が必要な理由</h2>
<p>今後、次の2点についてはCFC SHAREの利用が必要です。</p>
<ul>
<li><strong>利用料金の振替</strong></li>
<li><strong>若手研究者に係る共用設備利用支援制度の利用</strong>（制度の対象となる方）</li>
</ul>
<p>なお、現時点では、当室の運用に必要な課題受付・マシンタイム管理・装置予約・予約状況確認等のすべてをCFC SHAREのみで行うことはできません。このため、当室では従来の当室システムとCFC SHAREを併用します（詳細は後述の「8」「9」をご覧ください）。</p>
<h2>4. 特に早めの登録をお願いしたい方</h2>
<p>次に該当する方は、できるだけ早めに手続きをお願いいたします。</p>
<ul>
<li><strong>今年度すでに当室への利用申請があり、支払責任者になっている方</strong></li>
<li><strong>若手研究者に係る共用設備利用支援制度の利用を希望される方</strong>（制度の対象となる方）</li>
<li>学生の方を利用者としている研究室で、<strong>SHARE上の「利用責任者」になられる方</strong>（学生の方の利用申請には、先に利用責任者の方のSHARE登録が必要です。詳しくは「6」をご覧ください）</li>
</ul>
<hr class="wp-block-separator"/>
<h2>5. CFC SHAREへのユーザー登録（ログイン）</h2>
<p>CFC SHAREを開き、<strong>「学内利用者　東北大IDでログイン」</strong>からログインします。SHAREのユーザー登録がまだお済みでない場合は、画面の案内に従ってユーザー登録を行ってください。</p>
<ul>
<li><strong>CFC SHARE:</strong> <a href="https://share.cfc.tohoku.ac.jp/share/" target="_blank" rel="noopener">https://share.cfc.tohoku.ac.jp/share/</a></li>
</ul>
<figure class="wp-block-image size-large">
<img fetchpriority="high" decoding="async" width="630" height="480" src="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-01-login.png" alt="CFC SHARE ログイン画面（「学内利用者 東北大IDでログイン」）" class="wp-image-6092" style="max-width:100%;height:auto" srcset="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-01-login.png 630w, https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-01-login-300x229.png 300w" sizes="(max-width: 630px) 100vw, 630px" /><figcaption class="wp-caption-text">赤枠の「学内利用者　東北大IDでログイン」からログインします</figcaption></figure>
<h2>6. 当室管理装置の利用申請（SHARE上）の手順</h2>
<p>ログイン後、次の手順で当室管理装置の利用申請を行います。<strong>これは、従来の当室利用申請（「9」参照）とは別の手続きです。</strong></p>
<h3>手順1　「設備一覧」を開く</h3>
<p>ログイン後、画面上部のメニューから<strong>「設備一覧（Equipment）」</strong>を開きます。</p>
<figure class="wp-block-image size-large">
<img decoding="async" width="1039" height="64" src="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-02-menu.png" alt="CFC SHARE 上部メニュー（「設備一覧」の位置）" class="wp-image-6093" style="max-width:100%;height:auto" srcset="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-02-menu.png 1039w, https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-02-menu-300x18.png 300w, https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-02-menu-1024x63.png 1024w" sizes="(max-width: 1039px) 100vw, 1039px" /><figcaption class="wp-caption-text">上部メニュー左端の「設備一覧」をクリックします</figcaption></figure>
<h3>手順2　管理グループ「20_金研_分析コア_電顕」を選択する</h3>
<p>検索条件の<strong>「管理グループ（Management Group）」</strong>で、<strong>20_金研_分析コア_電顕</strong> を選択します（「20」と入力すると候補が絞り込まれます）。</p>
<figure class="wp-block-image size-large">
<img decoding="async" width="1000" height="268" src="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-03-group-select.png" alt="設備一覧画面で管理グループ「20_金研_分析コア_電顕」を選択する様子" class="wp-image-6094" style="max-width:100%;height:auto" srcset="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-03-group-select.png 1000w, https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-03-group-select-300x80.png 300w" sizes="(max-width: 1000px) 100vw, 1000px" /><figcaption class="wp-caption-text">管理グループの選択欄から「20_金研_分析コア_電顕」を選びます</figcaption></figure>
<h3>手順3　「検索」を押す</h3>
<p>管理グループを選択したら、<strong>「検索（Search）」</strong>を押します。</p>
<figure class="wp-block-image size-large">
<img loading="lazy" decoding="async" width="1000" height="168" src="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-04-search.png" alt="管理グループ選択後に「検索」ボタンを押す画面" class="wp-image-6095" style="max-width:100%;height:auto" srcset="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-04-search.png 1000w, https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-04-search-300x50.png 300w" sizes="auto, (max-width: 1000px) 100vw, 1000px" /><figcaption class="wp-caption-text">「20_金研_分析コア_電顕」が選択されていることを確認し、「検索」を押します</figcaption></figure>
<h3>手順4　利用予定の装置を選ぶ</h3>
<p>検索結果に、当室管理装置が一覧表示されます。この中から、<strong>今後利用する予定の装置を少なくとも1台</strong>選んでクリックします。</p>
<figure class="wp-block-image size-large">
<img loading="lazy" decoding="async" width="1000" height="777" src="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-05-results.png" alt="検索結果として当室管理装置が一覧表示された画面" class="wp-image-6096" style="max-width:100%;height:auto" srcset="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-05-results.png 1000w, https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-05-results-300x233.png 300w" sizes="auto, (max-width: 1000px) 100vw, 1000px" /><figcaption class="wp-caption-text">検索結果の例（画面の一部のみを表示しています）。利用予定の装置名をクリックします</figcaption></figure>
<h3>手順5　装置詳細画面で「利用申請」を押す</h3>
<p>装置詳細画面の<strong>「利用申請（Equipment Use Application）」</strong>を押します。</p>
<figure class="wp-block-image size-large">
<img loading="lazy" decoding="async" width="960" height="220" src="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-06-detail.png" alt="装置詳細画面の「利用申請」ボタン" class="wp-image-6097" style="max-width:100%;height:auto" srcset="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-06-detail.png 960w, https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-06-detail-300x69.png 300w" sizes="auto, (max-width: 960px) 100vw, 960px" /><figcaption class="wp-caption-text">赤枠の「利用申請」を押します。隣の「予約」は当室管理装置では使用しません（「8」参照）</figcaption></figure>
<h3>手順6　利用責任者を指定する</h3>
<p>利用申請画面で<strong>利用責任者</strong>を指定します。</p>
<ul>
<li><strong>ご自身が利用責任者の場合：</strong>「自分を責任者にする」を押します。</li>
<li><strong>他の方（研究室の代表者等）を利用責任者とする場合：</strong>「責任者検索」を押し、検索して選択します。</li>
</ul>
<figure class="wp-block-image size-large">
<img loading="lazy" decoding="async" width="820" height="320" src="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-07-responsible.png" alt="利用申請画面の「責任者検索」と「自分を責任者にする」ボタン" class="wp-image-6098" style="max-width:100%;height:auto" srcset="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-07-responsible.png 820w, https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-07-responsible-300x117.png 300w" sizes="auto, (max-width: 820px) 100vw, 820px" /><figcaption class="wp-caption-text">「責任者検索」または「自分を責任者にする」で利用責任者を指定します（指定後、下の欄に利用責任者の情報が入ります）</figcaption></figure>
<figure class="wp-block-image size-large">
<img loading="lazy" decoding="async" width="927" height="363" src="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-08-search-modal.png" alt="「責任者検索」の検索画面と、予算を保持する登録済みユーザーのみ設定可能である旨の注意書き" class="wp-image-6099" style="max-width:100%;height:auto" srcset="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-08-search-modal.png 927w, https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-08-search-modal-300x117.png 300w" sizes="auto, (max-width: 927px) 100vw, 927px" /><figcaption class="wp-caption-text">「責任者検索」の画面。氏名またはメールアドレスで検索し、該当する方の「選択」を押します（検索結果の表示部分は省略しています）</figcaption></figure>
<p>利用責任者の指定については、次の「利用責任者について」も必ずご確認ください。</p>
<h3>手順7　研究課題・支払予算等を入力して「申請」を押す</h3>
<p>研究課題、支払予算等、画面上の必須項目を選択・入力し、画面下部の<strong>「申請（Apply）」</strong>を押します。</p>
<figure class="wp-block-image size-large">
<img loading="lazy" decoding="async" width="815" height="488" src="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-09-apply-form.png" alt="利用申請画面下部の研究課題・支払予算の選択欄と「申請」ボタン" class="wp-image-6100" style="max-width:100%;height:auto" srcset="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-09-apply-form.png 815w, https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-09-apply-form-300x180.png 300w" sizes="auto, (max-width: 815px) 100vw, 815px" /><figcaption class="wp-caption-text">研究課題・支払予算を選択し、赤枠の「申請」を押します</figcaption></figure>
<h3>手順8　確認画面で申請を確定する</h3>
<p>確認画面が表示されますので、内容を確認して<strong>「OK」</strong>を押し、申請を確定します。</p>
<figure class="wp-block-image size-large">
<img loading="lazy" decoding="async" width="374" height="169" src="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-10-confirm.png" alt="申請内容の確認ダイアログ（OKで申請を確定）" class="wp-image-6101" style="max-width:100%;height:auto" srcset="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-10-confirm.png 374w, https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/wp-content/uploads/2026/10/share-10-confirm-300x136.png 300w" sizes="auto, (max-width: 374px) 100vw, 374px" /><figcaption class="wp-caption-text">「OK」を押すと申請が確定します</figcaption></figure>
<p>申請が完了すると、SHARE画面上に、利用責任者（指定した場合）および設備管理者の承認後に改めて通知される旨が表示されます。承認が完了するまでお待ちください。</p>
<h3>利用責任者について</h3>
<blockquote class="wp-block-quote">
<p><strong>学生の方など、ご自身で予算を管理していない方は、予算をお持ちの方をSHARE上の「利用責任者」として指定してください。</strong></p>
</blockquote>
<ul>
<li>SHARE上の説明のとおり、利用責任者として指定できるのは、<strong>財務会計システム上で予算を保持しており、かつSHAREにユーザー登録済みの方</strong>です。</li>
<li>指定したい利用責任者の方がSHAREに未登録の場合は、<strong>先にその利用責任者ご本人が東北大IDでSHAREにログインし、ユーザー登録を済ませて</strong>いただく必要があります。</li>
<li>特に、<strong>今年度すでに当室への利用申請があり支払責任者になっている方</strong>、<strong>学生の方を利用者としている研究室の代表者の方</strong>、<strong>若手研究者に係る共用設備利用支援制度の利用を予定されている方</strong>は、早めにSHAREへのユーザー登録をお願いいたします。</li>
</ul>
<h2>7. 申請は「今後利用する予定の装置」を1台だけで構いません</h2>
<p>当室予約システムとCFC SHAREの連携管理のため、最終的には当室管理の全装置について利用可能な状態を設定する必要があります。ただし、<strong>当室管理装置についてSHARE上で1件でも利用申請が行われていれば、残りの対象装置は当室管理者側で設定できます。</strong></p>
<p>したがって、<strong>当室管理の全装置を1台ずつ利用申請していただく必要はありません。</strong>今後利用する予定の装置を<strong>1台</strong>、SHARE上で利用申請してください。</p>
<h2>8. CFC SHAREは「予約」には使いません</h2>
<blockquote class="wp-block-quote">
<p><strong>当室管理装置については、CFC SHAREを予約システムとして使用しません。</strong></p>
</blockquote>
<p>現時点では、当室の運用に必要な課題受付・マシンタイム管理等のすべてをCFC SHAREのみで行うことができないため、当室管理装置の装置予約・予約状況の確認には従来の当室システムを使用します。</p>
<ul>
<li>SHARE上に「予約」の表示やボタンが表示されていても、<strong>当室管理装置の予約には使用しないでください。</strong></li>
<li>装置の予約申込み、予約状況の確認、予約の変更・調整は、これまでどおり<strong><a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/reserve/" target="_blank" rel="noopener">当室予約サイト</a></strong>で行ってください。</li>
<li>CFC SHARE上の利用実績は、実際の利用内容に基づき、<strong>当室管理者側で登録</strong>します。利用者の方がSHAREに実績を入力する必要はありません。</li>
</ul>
<p>「SHAREでの利用申請」と「装置予約」は別のものです。SHAREで利用申請をしても、装置の予約にはなりません。</p>
<h2>9. 従来の当室利用申請も引き続き必要です</h2>
<p>CFC SHAREへの登録・利用申請とは別に、<strong>従来の金研分析電顕室への利用申請も引き続き必要です。</strong>SHAREへ移行したことで従来の当室利用申請が不要になるわけではありません。</p>
<ul>
<li>CFC SHAREでの「利用申請」：SHARE上で、当室管理装置を利用するための申請（本ページ「6」）</li>
<li>従来の当室利用申請：これまでどおり、当室へ行う利用申請</li>
</ul>
<p>両方の手続きが必要ですので、お間違いのないようお願いいたします。</p>
<h2>10. 当面は、当室利用申請にも支払財源を記載してください</h2>
<p>従来の当室利用申請では、利用料金の<strong>支払財源</strong>を指定していただいています。当室側システムのCFC SHARE対応の改修が完了するまでの間、<strong>概ね今年度内については、従来どおり当室利用申請にも支払財源をご記載ください。</strong>（SHARE上の利用申請での支払予算の選択とは別に、当室利用申請にもご記載をお願いします。）</p>
<hr class="wp-block-separator"/>
<p><strong>関連記事:</strong> <a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/%e3%80%8c%e8%8b%a5%e6%89%8b%e7%a0%94%e7%a9%b6%e8%80%85%e3%81%ab%e4%bf%82%e3%82%8b%e5%85%b1%e7%94%a8%e8%a8%ad%e5%82%99%e5%88%a9%e7%94%a8%e6%94%af%e6%8f%b4%e5%88%b6%e5%ba%a6%e5%ae%9f%e6%96%bd%e8%a6%81/">「若手研究者に係る共用設備利用支援制度実施要領」の改正について</a>（2026年7月1日）</p>
<p>本件についてご不明な点がありましたら、金研分析電顕室までお問い合わせください。</p>
<p>以上、よろしくお願いいたします。</p>
<p>金研分析電顕室</p>
<p>※この投稿はAIエージェントによって作成されています。</p>
]]></content:encoded>
					
		
		
		<post-id xmlns="com-wordpress:feed-additions:1">6104</post-id>	</item>
		<item>
		<title>【2026年9月19日〜24日】連休に伴う分析電顕室閉室のお知らせ</title>
		<link>https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/%e3%80%902026%e5%b9%b49%e6%9c%8819%e6%97%a5%e3%80%9c24%e6%97%a5%e3%80%91%e7%a5%9d%e6%97%a5%e3%81%ab%e4%bc%b4%e3%81%86%e5%88%86%e6%9e%90%e9%9b%bb%e9%a1%95%e5%ae%a4%e9%96%89%e5%ae%a4%e3%81%ae%e3%81%8a/</link>
		
		<dc:creator><![CDATA[AI Agent]]></dc:creator>
		<pubDate>Fri, 18 Sep 2026 13:13:37 +0000</pubDate>
				<category><![CDATA[お知らせ]]></category>
		<guid isPermaLink="false">https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/?p=6077</guid>

					<description><![CDATA[■ 概要 下記の期間、分析電顕室(1-105)を閉室いたします。 ■ 詳細 &#8211; 閉室期間: 2026年9月19日(土)〜9月24日(木) &#8211; 9月21日(月・敬老の日)、9月22日(火・国民の休日 <a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/%e3%80%902026%e5%b9%b49%e6%9c%8819%e6%97%a5%e3%80%9c24%e6%97%a5%e3%80%91%e7%a5%9d%e6%97%a5%e3%81%ab%e4%bc%b4%e3%81%86%e5%88%86%e6%9e%90%e9%9b%bb%e9%a1%95%e5%ae%a4%e9%96%89%e5%ae%a4%e3%81%ae%e3%81%8a/" class="more-link">...<span class="screen-reader-text">  【2026年9月19日〜24日】連休に伴う分析電顕室閉室のお知らせ</span></a>]]></description>
										<content:encoded><![CDATA[<p>■ 概要<br />
下記の期間、分析電顕室(1-105)を閉室いたします。</p>
<p>■ 詳細<br />
&#8211; 閉室期間: 2026年9月19日(土)〜9月24日(木)<br />
&#8211; 9月21日(月・敬老の日)、9月22日(火・国民の休日)、9月23日(水・秋分の日)を含む期間です。<br />
&#8211; 9月24日(木)は平日ですが、職員不在のため閉室します。<br />
&#8211; 業務再開日: 2026年9月25日(金)</p>
<p>■ お願い・注意事項<br />
&#8211; 期間中はご利用・お問い合わせ対応ができません。あらかじめご了承ください。<br />
&#8211; 装置によっては、休業前後に調整等が必要となるため、ご利用いただけない期間が生じる場合があります。個別の装置の利用可能時期については、担当者にお問い合わせください。<br />
&#8211; 閉室期間中にご連絡が必要な場合は、ARIM事業班事務室(2-606)までお問い合わせください。<br />
&#8211; 緊急のご用件がある場合は、業務再開後に改めてご連絡ください。</p>
<p>■ お問い合わせ先<br />
分析電顕室(閉室期間中はARIM事業班事務室(2-606)までお問い合わせください)</p>
<p>※この投稿はAIエージェントによって作成されています。</p>
]]></content:encoded>
					
		
		
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		<item>
		<title>【設備・ツール紹介】TEMホルダーへの試料セットを安全・確実に――失敗時のリスクを防ぐ「手動マニピュレーター」のご案内</title>
		<link>https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/%e3%80%90%e8%a8%ad%e5%82%99%e3%83%bb%e3%83%84%e3%83%bc%e3%83%ab%e7%b4%b9%e4%bb%8b%e3%80%91tem%e3%83%9b%e3%83%ab%e3%83%80%e3%83%bc%e3%81%b8%e3%81%ae%e8%a9%a6%e6%96%99%e3%82%bb%e3%83%83%e3%83%88/</link>
		
		<dc:creator><![CDATA[分析電顕室]]></dc:creator>
		<pubDate>Fri, 21 Aug 2026 04:18:21 +0000</pubDate>
				<category><![CDATA[TIPS]]></category>
		<category><![CDATA[お知らせ]]></category>
		<category><![CDATA[ユーザー向け情報]]></category>
		<category><![CDATA[試料作製]]></category>
		<guid isPermaLink="false">https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/?p=5968</guid>

					<description><![CDATA[TEM観察において、FIB（集束イオンビーム）で作製した薄片試料のホルダーセットは、最も緊張を強いられる作業の一つです。 万が一、ホルダー取り付け時に試料を破損・紛失してしまった場合、その損失は試料そのものにとどまりませ <a href="https://www.aem.imr.tohoku.ac.jp/%e3%80%90%e8%a8%ad%e5%82%99%e3%83%bb%e3%83%84%e3%83%bc%e3%83%ab%e7%b4%b9%e4%bb%8b%e3%80%91tem%e3%83%9b%e3%83%ab%e3%83%80%e3%83%bc%e3%81%b8%e3%81%ae%e8%a9%a6%e6%96%99%e3%82%bb%e3%83%83%e3%83%88/" class="more-link">...<span class="screen-reader-text">  【設備・ツール紹介】TEMホルダーへの試料セットを安全・確実に――失敗時のリスクを防ぐ「手動マニピュレーター」のご案内</span></a>]]></description>
										<content:encoded><![CDATA[<p>TEM観察において、FIB（集束イオンビーム）で作製した薄片試料のホルダーセットは、最も緊張を強いられる作業の一つです。</p>
<p>万が一、ホルダー取り付け時に試料を破損・紛失してしまった場合、その損失は試料そのものにとどまりません。</p>
<ul>
<li><strong>再作製のコストと時間</strong><br />自作の場合でも数万円の費用と1ヶ月以上の再予約待ち、外部業者へ依頼した試料であれば<strong>数十万円規模の作製費</strong>と長い納期が無駄になってしまいます。</li>
<li><strong>当日の実験キャンセルと装置利用料の発生</strong><br />観察試料が破損してしまえば、その日のマシンタイムは中止せざるを得ませんが、<strong>確保していたTEMの装置利用料は発生したまま</strong>となってしまいます。</li>
<li><strong>破損・紛失時の保証はいたしかねます</strong><br />外部作製の高価な試料であっても、当室ではセット作業時の破損に対する補償・保証は一切できません。これは担当スタッフにとっても非常に大きなプレッシャーであり、重要試料の取り付けは依頼者ご自身にお願いするケースもございます。</li>
</ul>
<hr class="wp-block-separator" />
<h2>視力や経験を問わず、手作業には常にリスクが伴います</h2>
<p>「自分はまだ目が良いから大丈夫」「手先には自信がある」という若い研究者や学生の方であっても、油断は禁物です。</p>
<ul>
<li>年齢に伴う老眼や近視による、ピンセット先端の見えづらさ</li>
<li>試料を保持している瞬間の不意のくしゃみや手滑り</li>
<li>「絶対に失敗できない」というプレッシャーから生じる指先の震え</li>
</ul>
<p>人の手先の感覚だけに頼っている以上、偶発的なヒューマンエラーを完全に排除することは困難です。</p>
<hr class="wp-block-separator" />
<h2>導入後は「失敗ゼロ」に――当室配備の「手動マニピュレーター」</h2>
<p>こうしたリスクを未然に防ぎ、誰もが安全・確実に試料をセットできるよう、当室では<strong>手動マニピュレーター（ラビトル-XYZファイン）</strong>を常設・配備しております。</p>
<ul>
<li><strong>微動ノブによるミクロン単位の精密制御</strong><br />XYZ軸のダイヤル操作により、勘や手の震えに左右されず、狙った位置へゆっくりと確実に試料をアプローチできます。</li>
<li><strong>治具固定による圧倒的な安定感</strong><br />作業中に不意な揺れが生じても試料をしっかり保持できるため、取り落としや接触破損のリスクが大幅に下がります。</li>
<li><strong>担当スタッフの実感として</strong><br />老眼で微細なハンドリングに苦労していた当室スタッフの実感としても、<strong>「このマニピュレーターを導入して以来、セット作業の失敗はゼロになった」</strong>と言えるほど、信頼性の高いツールです。</li>
</ul>
<hr class="wp-block-separator" />
<h2>【重要】操作手順の間違いには十分ご注意ください</h2>
<p>マニピュレーターは非常に頼もしいツールですが、<strong>「操作手順（軸を動かす順番やアプローチの方向など）を誤ると、試料を押し潰したり引っ掛けて破損させてしまう」</strong>ことがあります。</p>
<p>そのため、以下の点にご留意ください。</p>
<ol>
<li><strong>いきなり本番試料で操作しない</strong><br />本番の高価・貴重な試料を扱う前に、必ずダミー試料や練習用グリッドを用いて、各軸の動きと操作感覚を掴んでください。</li>
<li><strong>手順を一つずつ確実に確認する</strong><br />焦りは禁物です。顕微鏡下の視野とツマミの回転方向を照合しながら、落ち着いて操作を進めてください。</li>
<li><strong>初回利用時はスタッフにお声がけください</strong><br />初めて操作される方には、破損を防ぐための正しい操作手順・注意点をスタッフがご案内します。</li>
</ol>
<hr class="wp-block-separator" />
<h2>実際の操作イメージ（参考動画）</h2>
<p>微細な位置合わせの様子については、以下の製品動画をご覧ください。</p>
<figure class="wp-block-embed is-type-video is-provider-youtube wp-block-embed-youtube wp-embed-aspect-16-9 wp-has-aspect-ratio">
<div class="wp-block-embed__wrapper">
    <iframe loading="lazy" width="560" height="315" src="https://www.youtube.com/embed/0nSqmVhR3XY?si=cE084QvtyIHfUG_g" title="YouTube video player" frameborder="0" allow="accelerometer; autoplay; clipboard-write; encrypted-media; gyroscope; picture-in-picture; web-share" allowfullscreen></iframe>
  </div>
</figure>
<hr class="wp-block-separator" />
<h2>まとめ：大切な試料観察の前に、ぜひ操作の習得を！</h2>
<p>当室をご利用の方であれば、マニピュレーターはどなたでもお使いいただけます。</p>
<p>大切な実験時間を無駄にせず、高価な試料を安全に観察へ繋げるためにも、ぜひ一度使い方を練習・習得しておくことを強くおすすめいたします。ご興味のある方は、分析電顕室スタッフまでお気軽にお声がけください。</p>
<p class="is-small-text">※ 製品参考情報: <a href="https://www.microsupport.co.jp/products/%E3%83%A9%E3%83%93%E3%83%88%E3%83%AB-xyz%E3%83%95%E3%82%A1%E3%82%A4%E3%83%B3/" target="_blank" rel="noopener">マイクロサポート社 ラビトル-XYZファイン</a>（製品仕様の参考リンクです。当室とは直接の関係はありません）</p>
<p>※この投稿はAIエージェントによって作成されています。</p>
]]></content:encoded>
					
		
		
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