透過電子顕微（TEM/STEM）
| 区分 | S/TEM | S/TEM | S/TEM | TEM | TEM |
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| 外観 |  |
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| 名称 | JEM-ARM200F W コレクター |
JEM-ARM200F STEM コレクター |
JEM-2100plus | EM-002B | JEM-2000EXII |
| 機能 | TEM/STEM/EDS/EELS | TEM/STEM/EDS/EELS | TEM/STEM/EDS | TEM/STEM/EDS | TEM |
| 場所 | 2-B13 | 2-B14 | 3-103 | 1-105 | 1-105 |
| 整備財源／移管元 | ナノプラ*1 | 工学部 | 所内研究室 | 所長裁量経費 | 百万ボルト電子顕微鏡室*2 |
| 備考 | EDS不調 |
TEM試料ホルダ
| 区分 | 試料加熱ホルダ | 試料冷却ホルダ | 試料加熱ホルダ | 試料冷却ホルダ | |
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| 外観 |  |
写真
準備中 |
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| 名称 | EM-SHH(4)／EM-SHTH | ||||
| 機能 | JEM-2000EXII用 | JEM-2000EXII用 | ARM200F/2100plus用 Protchips |
ARM200F/2100plus用 バルク用 |
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| 場所 | 1-105 | 1-105 | 2-B14 | 2-B14 | |
| 整備財源／移管元 | 百万ボルト電子顕微鏡室*2 | 百万ボルト電子顕微鏡室*2 | 工学部 | 工学部 | |
| 備考 | 調整中 | 調整中 |
| 区分 | 分析用2軸傾斜ホルダ | 強化仕様分析2軸傾斜ホルダ | 1軸傾斜ホルダ | トモグラフィ用ホルダ | |
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| 外観 |
写真
準備中 |
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| 名称 | |||||
| 機能 | ARM200F/2100plus用 | ARM200F/2100plus用 | ARM200F/2100plus用 | ARM200F/2100plus用 | |
| 場所 | 3-103,2-B13 | 2-B13,2-B14 | 3-103,2-B13,2-B14 | 2-B14 | |
| 整備財源／移管元 | ・先端電子顕微鏡センター*2 ・所内研究室 |
・ナノプラ*1 ・工学部 |
・ナノプラ*1 ・工学部 ・所内研究室 |
ナノプラ*1 | |
| 備考 | 複数台あり、移管元が異なる | 複数台あり、移管元が異なる | 複数台あり、移管元が異なる |
FIB/SEM
| 区分 | FIB/SEM | FIB/SEM | FIB/SEM | ||
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| 外観 |  |
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| 名称 | Versa 3D | Quanta 3D | AMBER X | ||
| 機能 | ・デュアルビームGa-FIB ・SEM/FIB複合加工 ・EasyLiftによるマイクロサンプリング |
・デュアルビームGa-FIB ・SEM/FIB複合加工 ・Omniprobeによるマイクロサンプリング |
・デュアルビームXeプラズマFIB ・SEM/FIB複合加工 ・TOF-SIMS対応 |
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| 場所 | 2-613 | 2-613 | 2-612 | ||
| 整備財源／移管元 | ナノプラ*1 | 先端電子顕微鏡センター*2 | ARIM | ||
| 備考 |
イオン研磨
| 区分 | 低加速ミリング | イオンミリング | イオンミリング | イオンスライサ | |
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| 外観 |  |
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| 名称 | Gentle Mill 3 | model 1010 | PIPS II（B） | EM-09100IS | |
| 機能 | 低エネルギープラズマミリング | 自動停止 試料冷却 |
自動停止 試料冷却 |
断面試料作製 | |
| 場所 | 2-613 | 1-105 | 1-105 | 1-105 | |
| 整備財源／移管元 | ナノプラ*1 | 所長裁量経費 | ナノプラ*1 | 所長裁量経費 | |
| 備考 | 提供中止(故障のため、廃棄手続き中) |
TEM試料関連機器
| 区分 | ディスクパンチ | ラップ研磨器 | 低速カッター | ディンプルグラインダー | ダイヤモンドワイヤソー |
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| 外観 |  |
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| 名称 | 自作 | マルトー | Gatan 656 | CS-203 | |
| 機能 | |||||
| 場所 | 1-105 | 1-105 | 1-105 | 1-105 | 1-105 |
| 整備財源／移管元 | 所内研究室 | 先端電子顕微鏡センター*2 | 国立大学改革強化推進補助金 | ||
| 備考 |
| 区分 | 自動研磨機 | ホットプレート | 超音波ディスク打抜き機 | 電解研磨装置 | |
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| 外観 |  |
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写真
準備中 |
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| 名称 | 自作 | ||||
| 機能 | Φ3mmディスク | ||||
| 場所 | 1-105 | 1-105 | 1-105 | ||
| 整備財源／移管元 | 国立大学改革強化推進補助金 | 所内研究室 | |||
| 備考 | 貸出のみ |
| 区分 | 光学顕微鏡 | 光学顕微鏡 | 光学顕微鏡 | ||
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| 外観 |  |
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写真
準備中 |
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| 名称 | デジタル顕微鏡 | 実体顕微鏡 | 光学顕微鏡 | ||
| 機能 | |||||
| 場所 | 1-105,2-B13,2-B14,2-613,3-103 | 1-105 | 1-105 | ||
| 整備財源／移管元 | 百万ボルト電子顕微鏡室*2 | ||||
| 備考 |
電子顕微鏡関連機器
| 区分 | オスミウムコーター | カーボンコータ | イオンクリーナー | イオンクリーナー | イオンクリーナー |
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| 外観 |  |
写真
準備中 |
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| 名称 | NEOC-PRO | ||||
| 機能 | |||||
| 場所 | 1-111 | 2-613 | 3-103 | 2-B13 | 2-B14 |
| 整備財源／移管元 | 指定国立大学 | ナノプラ*1 | |||
| 備考 | 調整中 |
| 区分 | プラズマエッチング装置 | プラズマクリーナー | プラズマクリーナー | ||
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| 外観 |  |
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| 名称 | Solarus | Solarus | |||
| 機能 | ガス種：Ar,H2,O2 | ガス種：Ar,H2,O2 | |||
| 場所 | 1-105 | 2-B13 | 2-B14 | ||
| 整備財源／移管元 | 所長裁量経費 | AIMR | ナノプラ*1 | ||
| 備考 | 故障中/修理不可 |
その他の装置
| 区分 | 多目的X線回折装置 | 熱分析装置 | |||
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| 外観 |  |
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| 名称 | SmartLab 9SW | Thermo plus EVO Ⅱ | |||
| 機能 | XRD | DSC/TG-DTA | |||
| 場所 | 2-613 | 2-613 | |||
| 整備財源／移管元 | ナノプラ分子合成PF*1 | ナノプラ分子合成PF*1 | |||
| 備考 |
ソフトウェア
- 結晶構造モデリング・電子回折シミュレーション
- 高分解能電子顕微鏡像シミュレーション
※「整備財源／移管元」欄は、装置が当室に移管された当時の名称で記載しています。
*1 現在の名称はARIM（先端研究基盤共用促進事業）です。
*2 現在の名称はTCEM（東北先端顕微鏡センター）です。
※「整備財源／移管元」が空欄の項目は、少額購入のため記載を省略している場合、または移管の経緯が不明である場合があります。